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Title |
TI |
[DE] VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ANALYSE EINES MATERIALSTROMS
[EN] DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING A MATERIAL FLOW
[FR] DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE D'UN FLUX DE MATÉRIAUX |
| 71/73 |
Applicant/owner |
PA |
BLUE OCEAN NOVA AG, DE
;
HOCHSCHULE REUTLINGEN, DE
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| 72 |
Inventor |
IN |
BÄUERLE TIM, DE
;
LORENZ GÜNTER, DE
;
MANNHARDT JOACHIM, DE
;
OSTERTAG EDWIN, DE
;
REBNER KARSTEN, DE
|
| 22/96 |
Application date |
AD |
Aug 2, 2017 |
| 21 |
Application number |
AN |
17184598 |
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Country of application |
AC |
EP |
|
Publication date |
PUB |
Feb 14, 2018 |
33
31
32 |
Priority data |
PRC
PRN
PRD |
DE
102016009650
20160808
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| 51 |
IPC main class |
ICM |
G01N 21/85
(2006.01)
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| 51 |
IPC secondary class |
ICS |
B29C 47/74
(2006.01)
B29C 47/92
(2006.01)
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
B29C 2948/92
B29C 48/92
G01N 2021/155
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
|
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MCD main class |
MCM |
G01N 21/85
(2006.01)
|
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MCD secondary class |
MCS |
B29C 48/74
(2019.01)
B29C 48/92
(2019.01)
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MCD additional class |
MCA |
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| 57 |
Abstract |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms (S) mit einem Einlassbereich (E), einem Messbereich (M) und einen Auslassbereich (A) sowie mit einer ersten Weiche (W1) und einer zweiten Weiche (W2) und einem Umlenkbereich (U), wobei die beiden Weichen (W1, W2) in einem ersten Schaltzustand (Z1) einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Messbereich (M) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich (E) über die erste Weiche (W1) durch den Umlenkbereich (U) über die zweite Weiche (W2) bis zum Auslassbereich (A) ausbilden. |
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Cited documents identified in the search |
CT |
DE000002133797A
EP000000962299A1
US000004034219A
US020090203840A1
US020120073687A1
WO002002029389A1
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| 56 |
Cited documents indicated by the applicant |
CT |
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| 56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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| 56 |
Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
B29C 47/74
B29C 47/92
G01N 21/05
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
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