Bibliografische Daten

Dokument EP000001252497B1 (Seiten: 7)

Bibliografische Daten Dokument EP000001252497B1 (Seiten: 7)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG ODER ZUM STRUKTURIEREN EINER OBERFLÄCHENSCHICHT
[EN] METHOD FOR INVESTIGATING OR STRUCTURING A SURFACE LAYER
[FR] PROCEDE POUR EXAMINER OU STRUCTURER UNE COUCHE SUPERFICIELLE
71/73 Anmelder/Inhaber PA MICRONAS GMBH, DE
72 Erfinder IN BAUMANN WERNER, DE ; EHRET RALF, DE ; GAHLE HANS-JUERGEN, DE ; IGEL GUENTER, DE ; LEHMANN MIRKO, DE ; WOLF BERNHARD, DE
22/96 Anmeldedatum AD 25.11.1998
21 Anmeldenummer AN 98962395
Anmeldeland AC EP
Veröffentlichungsdatum PUB 09.01.2008
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD
DE
19753790
04.12.1997
33
31
32
PRC
PRN
PRD
EP
9807597
25.11.1998
51 IPC-Hauptklasse ICM G01N 13/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01N 21/75 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01B 11/30
G01N 21/94
H01L 22/24
MCD-Hauptklasse MCM G01N 33/543 (2006.01)
G01N 13/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01B 11/30 (2006.01)
G01N 21/17 (2006.01)
G01N 21/45 (2006.01)
G01N 21/75 (2006.01)
G01N 21/84 (2006.01)
G01N 21/94 (2006.01)
G01N 27/414 (2006.01)
G01N 27/416 (2006.01)
G01Q 60/00 (2010.01)
H01L 21/66 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP