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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zur Herstellung eines Bauteils mit Nanometer-Multischichten für optische Anwendungen sowie nach diesem Verfahren hergestelltes Bauteil |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Technische Universität Dresden, 01069 Dresden, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Gutmann, Emanuel, 01099 Dresden, DE
;
Levin, Alexander A., 01069 Dresden, DE
;
Meyer, Dirk C., 01157 Dresden, DE
;
Paufler, Peter, 01157 Dresden, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
11.01.2006 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
112006000587 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
27.12.2007 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
DE
102005001232
11.01.2005
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33
31
32 |
PRC
PRN
PRD |
DE
2006000027
11.01.2006
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G03F 7/20
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
C03C 17/25
(2006.01)
G02B 5/20
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 10/00
G02B 5/283
G02B 5/285
G21K 1/062
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G03F 7/20
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
C03C 17/25
(2006.01)
G02B 5/20
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
C03C 17/25
G02B 5/20
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