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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung zur Messung von Schadtiefen parallel zu einer Beobachtungsrichtung |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Elbe Flugzeugwerke GmbH, 01109, Dresden, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Engelbrecht, Florian, 01109, Dresden, DE
;
Markert, Konstantin, 01109, Dresden, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
04.10.2023 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102023127056 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
17.04.2025 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/22
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 11/30
(2006.01)
G01M 13/00
(2019.01)
G01N 21/88
(2006.01)
G02B 21/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/22
G01M 13/00
G01N 21/88
G02B 21/00
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/22
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 11/30
(2006.01)
G01M 13/00
(2019.01)
G01N 21/88
(2006.01)
G02B 21/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird eine Vorrichtung zum optischen Messen von Schadtiefen in einer Beobachtungsfläche eines Gegenstands offenbart. Die Vorrichtung umfasst ein optisches Mikrometer mit einer Linsenanordnung, einer optischen Achse der Linsenanordnung, und einer Auswerteeinheit, und eine in einem definierten Abstand vor dem optischen Mikrometer angeordneten Spiegelanordnung mit einem Spiegel. Der Spiegel ist unter einem Winkel zu der optischen Achse angeordnet, um so die Beobachtungsfläche über den Spiegel und durch die Linsenanordnung abzubilden. Die Linsenanordnung ist relativ zu dem Spiegel entlang der optischen Achse verschiebbar, um so die Gegenstandsebene der Linsenanordnung anzupassen und somit die Linsenanordnung auf einem Bereich zu fokussieren. Die Auswerteeinheit ist konfiguriert, einen Verschiebeweg der Linsenanordnung zu messen. Die Vorrichtung ist konfiguriert, die Schadtiefe eines Schadens in der Beobachtungsfläche zu bestimmen, durch: Fokussieren der Linsenanordnung auf einen unbeschädigten Bereich der Beobachtungsfläche, Fokussieren der Linsenanordnung auf einen Schadpunkt in der Beobachtungsfläche, und Messen des relativen Verschiebewegs durch die Auswerteeinheit. Der relative Verschiebeweg korrespondiert mit der Schadtiefe des Schadpunkts. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
DE102007045569A1 DE102015114018A1 DE102017001758A1 JP002002039724A JP002010014656A JP002013174621A JP002017116439A
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
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