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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung eines Alterungszustandes mindestens eines Leistungshalbleiterschalters |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
VOLKSWAGEN AKTIENGESELLSCHAFT, 38440, Wolfsburg, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Arnaout, Samy, 34305, Niedenstein, DE
;
Rang, Oliver, 34132, Kassel, DE
;
Schmäling, Jan, 34346, Hann. Münden, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
16.05.2022 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102022204800 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
28.09.2023 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01R 31/26
(2020.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01K 1/026
G01K 13/02
G01K 7/015
G01K 7/42
G01R 31/2603
G01R 31/2619
G01R 31/2628
G01R 31/2642
G01R 31/3277
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01R 31/26
(2020.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zur Bestimmung eines Alterungszustandes mindestens eines Leistungshalbleiterschalter (2), wobei die Vorrichtung (1) mindestens eine Auswerteeinheit (4) und eine Einrichtung (5) zur Erfassung oder Ermittlung einer Temperatur (T) des Leistungshalbleiterschalters (2) aufweist, wobei die Auswerteeinheit (4) derart ausgebildet ist, auf Kennlinien eines Durchgangswiderstandes (Ron) über den Alterungszustand zuzugreifen, wobei die Kennlinien mit verschiedenen Temperaturen (T) des Leistungshalbleiterschalters (2) parametriert sind, wobei die Auswerteeinheit (4) weiter derart ausgebildet ist, einen Spannungswert (U) über dem Leistungshalbleiterschalter (2) bei einem vorgegebenen Stromwert (I) durch den Leistungshalbleiterschalter (2) in einem durchgeschaltetem Zustand zu erfassen und daraus einen Durchgangswiderstand (Ron) zu berechnen, wobei dann die Auswerteeinheit (4) unter Berücksichtigung der von der Einrichtung (5) erfassten oder ermittelten Temperatur (T) des Leistungshalbleiterschalters (2) mittels einer Kennlinie dem Leistungshalbleiterschalter (2) einen Alterungszustand zuordnet, wobei die Vorrichtung (1) mindestens eine weitere Einrichtung (11) zur Erfassung oder Ermittlung der Temperatur (T) des Leistungshalbleiters (2) aufweist, wobei die Auswerteeinheit (4) derart ausgebildet ist, die mittels der Einrichtung (5) erfassten oder ermittelten Temperaturwerte des Leistungshalbleiterschalters (2) mittels der von der mindestens einen weiteren Einrichtung (11) erfassten oder ermittelten Temperaturwerte des Leistungshalbleiterschalters (2) zu plausibilisieren und/oder anzupassen, und ein zugehöriges Verfahren. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
CN000112485632A
DE102006001874B4
DE102015223470A1
DE102020116424A1
DE102020214678A1
EP000003492935B1
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01K 1/02
G01K 13/02
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