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Titel |
TI |
[DE] Funkortungssystem mit Testeinrichtung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Pilz GmbH & Co. KG, 73760, Ostfildern, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Fritzmann, Marcus, 73760, Ostfildern, DE
;
Ibrocevic, Onedin, 73760, Ostfildern, DE
;
Loy, Stefan, 73760, Ostfildern, DE
;
Pullmann, Jürgen, 73760, Ostfildern, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
26.07.2022 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102022118737 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
28.09.2023 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 5/02
(2010.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
F16P 3/14
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B25J 19/06
B25J 9/16
F16P 3/147
G01S 1/026
G01S 1/04
G01S 1/68
G01S 5/0205
G01S 5/0244
G01S 5/02585
G01S 5/0284
G01S 5/14
H04W 28/04
H04W 64/00
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 5/02
(2010.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
F16P 3/14
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Funkortungssystem (10) mit einer ersten Funkeinheit (12), einer zweiten Funkeinheit (14), einer Referenzfunkeinheit (16) sowie mit einer mit dem Funkortungssystem (10) koppelbaren Testeinrichtung (26). Das Funkortungssystem (10) ist dazu eingerichtet, mittels einer Funkortung eine erste definierte Eigenschaft (20), insbesondere Position oder Lage, zwischen der ersten Funkeinheit (12) und der zweiten Funkeinheit (14) zu bestimmen sowie mittels der Funkortung eine zweite definierte Eigenschaft (22, 22`) zwischen der ersten Funkeinheit (12) und der Referenzfunkeinheit (16) zu bestimmen. Die zweite definierte Eigenschaft (22, 22`) ist gemäß einem der Testeinrichtung (26) bekannten Muster (24) kontinuierlich veränderbar, wobei die Testeinrichtung (26) dazu eingerichtet ist, eine Bestätigung der ersten definierten Eigenschaft (20) nur dann zu erzeugen, wenn das Funkortungssystem (10) die sich gemäß dem Muster (24) verändernde zweite definierte Eigenschaft (22, 22`) erfasst. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE102019132024A1
DE102020102155A1
EP000003835806A1
WO002005012934A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
F16P 3/14
G01S 5/02
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