54 |
Titel |
TI |
[DE] Fahrzeug, aufweisend eine Scheinwerfervorrichtung, Scheinwerfervorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Scheinwerfervorrichtung |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
AUDI Aktiengesellschaft, 85057, Ingolstadt, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Armbruster, Tilman, Dr., 85057, Ingolstadt, DE
;
Debelec, Marcel, 85053, Ingolstadt, DE
;
Reim, Johannes, 85057, Ingolstadt, DE
;
Schmidt, Valentin, 86633, Neuburg, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
21.07.2021 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102021118839 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
27.10.2022 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B60Q 1/24
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B60Q 1/14
(2006.01)
F21S 41/153
(2018.01)
G01B 11/30
(2006.01)
G02B 27/18
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
F21W 103/60
(2018.01)
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B60Q 1/085
B60Q 2300/112
B60Q 2300/322
B60Q 2300/324
B60Q 2400/50
H04N 9/3138
H04N 9/3182
H04N 9/3185
H04N 9/3194
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B60Q 1/24
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B60Q 1/14
(2006.01)
F21S 41/153
(2018.01)
G01B 11/30
(2006.01)
G02B 27/18
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
F21W 103/60
(2018.01)
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Fahrzeug (1), das eine Scheinwerfervorrichtung (2) aufweist. Die Scheinwerfervorrichtung (2) umfasst eine Projektionseinrichtung (3) und eine Steuereinheit (4), wobei die Steuereinheit (4) dazu eingerichtet ist, die Projektionseinrichtung (3) zur Projektion eines vorgegebenen Lichtmusters (6) in einem vorbestimmten Projektionsbereich (8) der Projektionseinrichtung (3) anzusteuern. Es ist vorgesehen, dass in der Steuereinheit (4) eine Punktekarte (12) gespeichert ist, in der Projektionspunkte (13) an jeweiligen Projektionspunktekoordinaten (14) in dem vorbestimmten Projektionsbereich (8) definiert sind. Die Steuereinheit (4) ist dazu eingerichtet, eine Lage der Projektionspunktekoordinaten (14) nach einem vorbestimmten Vorverzerrungsverfahren in Abhängigkeit von einem erfassten Höhenverlauf (16) einer Oberfläche (7), anzupassen, und das Lichtmuster (6) nach einem vorbestimmten Zerlegungsverfahren in zumindest eine polygonale Fläche (15) zu zerlegen, deren Eckpunkte durch einen jeweiligen der Projektionspunkte (13) definiert sind. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
DE000019654225B4 DE102006050547A1 DE102013019021A1 DE102017209148A1 US000010894508B2 US000010919437B2
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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DE102023107334A1
DE102023200372A1
EP000004436163A1
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B60Q 1/08
B60Q 1/14
B60Q 1/24
G01B 11/30
G02B 27/18
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