| 54 |
Titel |
TI |
[DE] Verfahren zum Ermitteln einer Kapillartiefe bei einem Laserschweißprozess |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Mercedes-Benz Group AG, 70372, Stuttgart, DE
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
Alkhawam, Mhd louai, 70174, Stuttgart, DE
;
Cvoro, Marvin, 78727, Oberndorf, DE
;
Schwarz, Marius, 70176, Stuttgart, DE
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
15.01.2021 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102021000151 |
|
Anmeldeland |
AC |
DE |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
21.07.2022 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B23K 26/03
(2006.01)
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B23K 26/21
(2014.01)
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B23K 26/032
B23K 26/24
B23K 31/125
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
B23K 26/03
(2006.01)
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
B23K 26/21
(2014.01)
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln einer jeweiligen Tiefe einer bei einer Herstellung einer Schweißnaht (10) entstehenden Dampfkapillare (18), wobei die Schweißnaht (10) durch Laserschweißen entlang einer Vorschubrichtung (40) hergestellt wird. Es wird eine Referenzmessung durchgeführt, bei welcher ein Referenzstrahl (26) entlang der Vorschubrichtung (40) eine Oberfläche (19) eines Bauteils (12), welches mit der Schweißnaht (10) versehen wird, abtastet, wodurch Referenzwerte erfasst werden, die eine jeweilige Höhe der Oberfläche (19) an entlang der Vorschubrichtung (40) aufeinanderfolgenden Referenzstellen (31) der Oberfläche charakterisieren. Es wird das Laserschweißen durchgeführt, bei welchem die Schweißnaht (10) hergestellt und eine Kapillartiefenmessung durchgeführt wird, bei der an entlang der Vorschubrichtung (40) aufeinanderfolgenden Messstellen (11) ein jeweiliger Messwert erfasst wird, welcher die jeweilige Tiefe der bei der Herstellung der Schweißnaht (10) entstehenden und sich entlang der Vorschubrichtung (40) bewegenden Dampfkapillare (18) an der jeweiligen Messstelle (11) charakterisiert. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE102016001661B3
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
B23K 26/03
|
