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Document DE102021000066A1 (Pages: 11)

Bibliographic data Document DE102021000066A1 (Pages: 11)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit von Proben, insbesondere zur Anwendung bei hohen Temperaturen
71/73 Applicant/owner PA Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
72 Inventor IN Moos, Ralf, Prof.Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
22/96 Application date AD Jan 8, 2021
21 Application number AN 102021000066
Country of application AC DE
Publication date PUB Jul 14, 2022
33
31
32
Priority data PRC
PRN
PRD


51 IPC main class ICM G01R 27/00 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G01N 27/041
G01R 27/14
MCD main class MCM G01R 27/00 (2006.01)
MCD secondary class MCS
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit einer Probe willkürlicher Geometrie, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Probe Elektroden ohne spezielle und/oder genau definierte Geometrie aufgebracht sind und dass die Geometrie von Probe und Elektroden mit einem geeigneten Verfahren, z.B. mit einem 3D-Scanning-Verfahren oder einer Tomographie, bestimmt werden und dass ein 3D-Modell der Probe einschließlich der Elektroden erstellt wird, wobei die Elektroden als Äquipotentialbereiche definiert sind, und dass ein Formfaktor aus dem abgeleiteten 3D-Modell mit Hilfe eines Finite-Elemente (FE)-Software-Tools berechnet wird, und dass aus der Bestimmung eines Widerstandes (z.B. durch Anlegen eines Stromes und einer Spannung) die Leitfähigkeit aus dem Widerstand und dem abgeleiteten Formfaktor berechnet wird.
56 Cited documents identified in the search CT
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
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Search file IPC ICP G01R 27/00