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Title |
TI |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit von Proben, insbesondere zur Anwendung bei hohen Temperaturen |
71/73 |
Applicant/owner |
PA |
Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
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72 |
Inventor |
IN |
Moos, Ralf, Prof.Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE
;
Wang, Rui, 95447, Bayreuth, DE
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22/96 |
Application date |
AD |
Jan 8, 2021 |
21 |
Application number |
AN |
102021000066 |
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Country of application |
AC |
DE |
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Publication date |
PUB |
Jul 14, 2022 |
33 31 32 |
Priority data |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC main class |
ICM |
G01R 27/00
(2006.01)
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51 |
IPC secondary class |
ICS |
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G01N 27/041
G01R 27/14
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MCD main class |
MCM |
G01R 27/00
(2006.01)
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MCD secondary class |
MCS |
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MCD additional class |
MCA |
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57 |
Abstract |
AB |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit einer Probe willkürlicher Geometrie, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Probe Elektroden ohne spezielle und/oder genau definierte Geometrie aufgebracht sind und dass die Geometrie von Probe und Elektroden mit einem geeigneten Verfahren, z.B. mit einem 3D-Scanning-Verfahren oder einer Tomographie, bestimmt werden und dass ein 3D-Modell der Probe einschließlich der Elektroden erstellt wird, wobei die Elektroden als Äquipotentialbereiche definiert sind, und dass ein Formfaktor aus dem abgeleiteten 3D-Modell mit Hilfe eines Finite-Elemente (FE)-Software-Tools berechnet wird, und dass aus der Bestimmung eines Widerstandes (z.B. durch Anlegen eines Stromes und einer Spannung) die Leitfähigkeit aus dem Widerstand und dem abgeleiteten Formfaktor berechnet wird. |
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Cited documents identified in the search |
CT |
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56 |
Cited documents indicated by the applicant |
CT |
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56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G01R 27/00
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