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Bibliografische Daten

Dokument DE102020208071A1 (Seiten: 12)

Bibliografische Daten Dokument DE102020208071A1 (Seiten: 12)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Planung einer Fertigungsstätte
71/73 Anmelder/Inhaber PA TRUMPF Werkzeugmaschinen GmbH + Co. KG, 71254, Ditzingen, DE ; Technische Universität Dortmund, 44227, Dortmund, DE
72 Erfinder IN Kallat, Fadil, 44135, Dortmund, DE ; Mieth, Carina, 70184, Stuttgart, DE ; Rehof, Jakob, Dr., 44229, Dortmund, DE
22/96 Anmeldedatum AD 30.06.2020
21 Anmeldenummer AN 102020208071
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 30.12.2021
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G06Q 50/04 (2012.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G06Q 10/06 (2012.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G05B 19/41865
G05B 19/41885
G05B 2219/32304
G05B 2219/45143
G05B 2219/45234
Y02P 90/02
MCD-Hauptklasse MCM G06Q 50/04 (2012.01)
MCD-Nebenklasse MCS G06Q 10/06 (2012.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer optimalen Kombination von Blechbearbeitungs-Anlagen (12a-12d) in einer Fertigungsstätte (10). In dem Verfahren werden mehrere, insbesondere eine Vielzahl, vorzugsweise alle, möglichen Anlagen-Kombinationen erstellt. Diese Erstellung erfolgt bevorzugt durch ein CLS Modul (CLS Solver) (24). Die erstellten Anlagen-Kombinationen werden dann anhand zumindest eines vordefinierten Optimierungskriteriums (32) gerankt. Das Optimierungskriterium (32) kann in Form der Gesamt-Anlagenkosten und/oder der Gesamt-Produktionszeit der jeweiligen Anlagen-Kombination vorliegen. Das Ranking kann mittels eines SMT Moduls (SMT Frameworks) (28) durchgeführt werden. Das SMT Modul (28) kann weiterhin ein Filtern anhand spezifischer Randbedingungen (30), beispielsweise anhand einer nicht zu überschreitenden Gesamt-Produktionszeit der jeweiligen Anlagen-Kombination vornehmen. Hierdurch können ausgetretene Pfade bei der Planung einer Fertigungsstätte (10) verlassen und unerwartete optimale Anlagen-Kombinationen aufgefunden werden. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Computerprogrammprodukt zur Durchführung des Verfahrens.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP „Scala? zur Verfügung. Weiterhin sind CLS-Solver aus folgendem Artikel bekannt geworden: J. Bessai, A. Dudenhefner, B. Düdder, M. Martens, and J. Rehof, „Combinatory Logic Synthesizer,“ in Leveraging Applications of Formal Methods, Verification and Validation. Technologies for Mastering Change (T. Margaria and B. Steffen, eds.), Lecture Notes in Computer Science, (Berlin, Heidelberg), pp. 26-40, Springer, 2014 1;
(Berlin, Heidelberg), pp. 337-340, Springer, 2008 1;
F. Kallat, T. Schäfer, and A. Vasileva, „CLS-SMT: Bringing Together Combinatory Logic Synthesis and Satisfiability Modulo Theories“, in Electronic Proceedings in Theoretical Computer Science, vol. 301: pp. 51-65, 2019? 1;
J. Bessai, B. Düdder, G. T. Heineman, et al., „(CL)S Framework,“ 2019 1;
L. de Moura and N. Bjørner, „Z3: An Efficient SMT Solver,“ in Tools and Algorithms for the Construction and Analysis of Systems (C. R. Ramakrishnan and J. Rehof, eds.), Lecture Notes in Computer Science, (Berlin, Heidelberg), pp. 337-340, Springer, 2008 sowie N. Bjørner, A.-D. Phan, and L. Fleckenstein, „vZ - An Optimizing SMT Solver,“ in Tools and Algorithms for the Construction and Analysis of Systems (C. Baier and C. Tinelli, eds.), vol. 9035, pp. 194-199, Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2015. 1;
N. Bjørner, A.-D. Phan, and L. Fleckenstein, „Z - An Optimizing SMT Solver,? in Tools and Algorithms for the Construction and Analysis of Systems (C. Baier and C. Tinelli, eds.), vol. 9035, pp. 194-199 1;
S. Völker, M. Bacher, P.-M. Schmidt und G. Gross: „Automatische Generierung logistischer Simulationsmodelle auf Basis von Planungswerkzeugen der digitalen Fabrik“, Frontiers in Simulation, vol. 15, Seiten 518-523, 2005 1
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Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G06Q 10/06
G06Q 50/04