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Title |
TI |
[DE] Ermittlung eines Wärmedurchgangs von Gebäuden |
| 71/73 |
Applicant/owner |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 53227, Bonn, DE
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| 72 |
Inventor |
IN |
Dill, Stephan, 80339, München, DE
;
Estevam Schmiedt, Jacob, 51069, Köln, DE
;
Gorzalka, Philip, 51069, Köln, DE
;
Haas, Alexander, 82234, Weßling, DE
;
Hoffschmidt, Bernhard, 51467, Bergisch Gladbach, DE
;
Peichl, Markus, 82284, Grafrath, DE
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| 22/96 |
Application date |
AD |
Aug 25, 2020 |
| 21 |
Application number |
AN |
102020122132 |
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Country of application |
AC |
DE |
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Publication date |
PUB |
Jan 12, 2023 |
33
31
32 |
Priority data |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC main class |
ICM |
G01N 22/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC secondary class |
ICS |
G01B 15/02
(2006.01)
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G01S 13/88
G01S 13/90
G01S 7/024
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MCD main class |
MCM |
G01N 22/00
(2006.01)
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MCD secondary class |
MCS |
G01B 15/02
(2006.01)
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MCD additional class |
MCA |
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Abstract |
AB |
[DE] Verfahren zum Ermitteln eines Maßes für einen Wärmedurchgang eines Gebäude-Bauelements (1), aufweisend die Schritte:- Emittieren (S1) von Mikrowellensignalen in einer Vielzahl von Frequenzen auf ein jeweiliges Bauelement (1),- Erfassen (S2) von am jeweiligen Bauelement (1) und an Übergängen von Schichten (3) im jeweiligen Bauelement (1) reflektierten Mikrowellensignalen,- Ermitteln (S3) einer Anzahl der Schichten (3) im jeweiligen Bauelement (1) aus den reflektierten Mikrowellensignalen insbesondere durch Laufzeitbestimmung der reflektierten Mikrowellensignale,- Elektromagnetisches Modellieren (S4) des jeweiligen Bauelements (1) in einem Rechnermodell, wobei das Rechnermodell einen Schichtaufbau des jeweiligen Bauelements (1) mit der ermittelten Anzahl der Schichten (3) aufweist und als variable Parameter jeweilige Schichtdicken und jeweilige komplexe Permittivitäten der Schichten (3) umfasst,- Vorgeben (S5) von Startwerten für die variablen Parameter des Rechnermodells,- iteratives Anpassen (S6) des Rechnermodells durch wiederholtes Variieren der Werte der variablen Parameter und durch Auswählen eines Satzes von Werten der variablen Parameter anhand einer Übereinstimmung zwischeni) einer analytisch oder durch Simulation ermittelten Reflexionscharakteristik des Rechnermodells undii) einer aus einem Verhältnis zwischen den emittierten und den erfassten reflektieren Mikrowellensignalen ermittelten tatsächlichen Reflexionscharakteristik,- für jede der im Rechnermodell mit dem ausgewählten Satz der variablen Parameter modellierten Schichten (3): Ermitteln (S7) einer jeweiligen Wärmeleitfähigkeit der jeweiligen Schicht auf Basis eines ersten vorgegebenen Datensatzes, wobei der erste vorgegebene Datensatz einen Zusammenhang zwischen komplexen Permittivitäten und Wärmeleitfähigkeiten angibt, und- Ermitteln (S8) des Maßes für den Wärmedurchgang des jeweiligen Bauelements (1) aus den ermittelten Schichtdicken und Wärmeleitfähigkeiten der jeweiligen Schichten (3). |
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Cited documents identified in the search |
CT |
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Cited documents indicated by the applicant |
CT |
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Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G01B 15/02 HF
G01N 22/00
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