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Titel |
TI |
[DE] Ermittlung eines Wärmedurchgangs von Gebäuden |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 53227, Bonn, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Dill, Stephan, 80339, München, DE
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Estevam Schmiedt, Jacob, 51069, Köln, DE
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Gorzalka, Philip, 51069, Köln, DE
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Haas, Alexander, 82234, Weßling, DE
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Hoffschmidt, Bernhard, 51467, Bergisch Gladbach, DE
;
Peichl, Markus, 82284, Grafrath, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
25.08.2020 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102020122132 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
12.01.2023 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 22/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 15/02
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 13/88
G01S 13/90
G01S 7/024
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 22/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 15/02
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zum Ermitteln eines Maßes für einen Wärmedurchgang eines Gebäude-Bauelements (1), aufweisend die Schritte:- Emittieren (S1) von Mikrowellensignalen in einer Vielzahl von Frequenzen auf ein jeweiliges Bauelement (1),- Erfassen (S2) von am jeweiligen Bauelement (1) und an Übergängen von Schichten (3) im jeweiligen Bauelement (1) reflektierten Mikrowellensignalen,- Ermitteln (S3) einer Anzahl der Schichten (3) im jeweiligen Bauelement (1) aus den reflektierten Mikrowellensignalen insbesondere durch Laufzeitbestimmung der reflektierten Mikrowellensignale,- Elektromagnetisches Modellieren (S4) des jeweiligen Bauelements (1) in einem Rechnermodell, wobei das Rechnermodell einen Schichtaufbau des jeweiligen Bauelements (1) mit der ermittelten Anzahl der Schichten (3) aufweist und als variable Parameter jeweilige Schichtdicken und jeweilige komplexe Permittivitäten der Schichten (3) umfasst,- Vorgeben (S5) von Startwerten für die variablen Parameter des Rechnermodells,- iteratives Anpassen (S6) des Rechnermodells durch wiederholtes Variieren der Werte der variablen Parameter und durch Auswählen eines Satzes von Werten der variablen Parameter anhand einer Übereinstimmung zwischeni) einer analytisch oder durch Simulation ermittelten Reflexionscharakteristik des Rechnermodells undii) einer aus einem Verhältnis zwischen den emittierten und den erfassten reflektieren Mikrowellensignalen ermittelten tatsächlichen Reflexionscharakteristik,- für jede der im Rechnermodell mit dem ausgewählten Satz der variablen Parameter modellierten Schichten (3): Ermitteln (S7) einer jeweiligen Wärmeleitfähigkeit der jeweiligen Schicht auf Basis eines ersten vorgegebenen Datensatzes, wobei der erste vorgegebene Datensatz einen Zusammenhang zwischen komplexen Permittivitäten und Wärmeleitfähigkeiten angibt, und- Ermitteln (S8) des Maßes für den Wärmedurchgang des jeweiligen Bauelements (1) aus den ermittelten Schichtdicken und Wärmeleitfähigkeiten der jeweiligen Schichten (3). |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 15/02 HF
G01N 22/00
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