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Titel |
TI |
[DE] ABSTANDSMESSEINHEIT |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
OSRAM GmbH, 80807, München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Gammer, Christian, 93455, Traitsching, DE
;
Jaskolka, David, 93073, Neutraubling, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.10.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018218166 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
30.04.2020 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 7/481
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G02B 26/10
(2006.01)
H01L 31/12
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 17/89
G01S 17/931
G01S 7/481
G01S 7/4813
G01S 7/4815
G01S 7/4817
G01S 7/484
G01S 7/4865
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 7/481
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G02B 26/10
(2006.01)
H01L 31/12
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abstandsmesseinheit (1) zur signallaufzeitbasierten Vermessung eines Erfassungsfeldes, welche folgende Bauteile aufweist:i.) eine Emittereinheit (2) zur Emission von Laserpulsen (3.1-3.6);ii.) eine Optikeinheit (4), um die Laserpulse (3.1-3.6) in unterschiedliche Raumwinkelsegmente (20.1-20.3) zu führen;iii.) eine Sensoreinheit (6) zum Empfangen von Echopulsen (10.1-10.39) aus den Raumwinkelsegmenten (20.1-20.3) ;iv.) einen Logikbaustein (30), der zum Auslesen der Sensoreinheit (6) eingerichtet ist;wobei zumindest die Bauteile gemäß den Ziffern i.) bis iii.) auf einem gemeinsamen Substrat (12) angeordnet sind. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE102008025772A1
DE102013002668A1
DE102014006623A1
DE102017204073A1
US020170328987A1
WO002013079706A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
IPDiA: Extreme Temperature Silicon Capacitor. Caen, France, 14.02.2014. - Firmenschrift. https://media.digikey.com/pdf/Data%20Sheets/IPDiA%20PDFs/XTSC427yyy-1206.pdf [abgerufen am 26.07.2019] p 0
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 7/481
G02B 26/10
H01L 31/12
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