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Document DE102018125826A1 (Pages: 14)

Bibliographic data Document DE102018125826A1 (Pages: 14)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten
71/73 Applicant/owner PA SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
72 Inventor IN Gimpel, Hartmut, 79194, Gundelfingen, DE ; Jägel, Matthias, 79104, Freiburg, DE
22/96 Application date AD Oct 18, 2018
21 Application number AN 102018125826
Country of application AC DE
Publication date PUB Apr 23, 2020
33
31
32
Priority data PRC
PRN
PRD


51 IPC main class ICM G01S 7/481 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G01S 17/08
G01S 17/10
G01S 17/93
G01S 7/481
G01S 7/4815
G01S 7/4816
G01S 7/4817
MCD main class MCM G01S 7/481 (2006.01)
MCD secondary class MCS
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich (20), der mindestens einen Lichtsender (22) zum Aussenden mehrerer voneinander separierter Lichtstrahlen (26) ausgehend von jeweils einem Sendepunkt (22b), eine Sendeoptik (24) für die ausgesandten Lichtstrahlen (26), mindestens einen Lichtempfänger (32) zum Erzeugen eines jeweiligen Empfangssignals aus den von Objekten zurückgeworfenen und in jeweils einem Empfangspunkt (32b) auftreffenden remittierten Lichtstrahlen (28), eine Empfangsoptik (30) für die remittierten Lichtstrahlen (28) und eine Auswertungseinheit (40) zur Gewinnung von Informationen über die Objekte aus den Empfangssignalen aufweist. Dabei ist die Empfangsoptik (30) und/oder die Sendeoptik (24) ein zweilinsiges Objektiv für ein kreisringförmiges Bildfeld mit Bildfeldwinkel &agr;, das eine erste Linse (50) und eine zweite Linse (52) aufweist, wobei die erste Linse (50) derart ausgebildet ist, dass Lichtbündel (54, 56) jedes einzelnen Sendepunktes und/oder Empfangspunktes mit Bildfeldwinkel &agr; nur eine Hälfte der zweiten Linse (52) treffen.
56 Cited documents identified in the search CT EP000003045936A1
JP002009236774A
US020110261368A1
56 Cited documents indicated by the applicant CT DE000019757849B4
DE102015121839A1
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP JP 2009 / 236 774 Ahttps://www.j-platpat.inpit.go.jp/Translation 06.08.2019 p 0
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
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Search file IPC ICP G01S 7/481
G01V 8/18
G01V 8/20
G05B 9/02