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Titel |
TI |
[DE] Verfahren zum Nachweis von Objekten in einem Überwachungsbereich und elektrooptischer Sensor |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Pepperl+Fuchs GmbH, 68307, Mannheim, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Brandt, Sönke, 10825, Berlin, DE
;
Madry, Lars, 12277, Berlin, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
08.10.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018124788 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
09.07.2020 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 17/10
(2020.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 17/04
G01S 17/10
G01S 7/4865
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 17/10
(2020.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zum Nachweis von Objekten in einem Überwachungsbereich, bei dem• Lichtpulse (12) in den Überwachungsbereich (40) gesendet werden,• von einem im Überwachungsbereich (40) befindlichen Objekt (10) zurückgestrahlte Lichtpulse (14) mit einem Detektor (18) nachgewiesen werden,• aus einer Zeitdifferenz (&Dgr;) zwischen einem Empfangszeitpunkt (t2) eines von dem Objekt (10) zurückgestrahlten Lichtpulses (16) und einem Aussendezeitpunkt (t1) dieses Lichtpulses (14) eine Entfernung (d) des Objekts (10) bestimmt wird,• ein Detektionssignal (52) des Detektors (18) zu festgelegten Abtastzeitpunkten (tk, tk+1, tk+2) abgetastet und mit einer Intensitätsschwelle (51) verglichen wird,• als Zählereignis gewertet wird, wenn das Detektionssignal (52) zu einem bestimmten Abtastzeitpunkt (54) größer ist als die Intensitätsschwelle (51),• die Zählereignisse für verschiedene Abtastzeitpunkte (tk, tk+1, tk+2,..) jeweils in einem separaten Zählkanal (k, k+1, k+2,..) gesammelt werden, wobei die Gesamtheit der Zählkanäle (k, k+1, k+2,..) ein Histogramm bildet, und• für eine festgelegte Anzahl von Einzelmessungen ein Objekt (10) als nachgewiesen gewertet wird, wenn die Anzahl der Zählereignisse in mindestens einem Zählkanal (k) größer ist als eine Häufigkeitsschwelle (61), dadurch gekennzeichnet,dass die Häufigkeitsschwelle (61) abhängig von einem zeitlichen Verlauf eines Scheitelwerts (72) von Zählereignissen in einem Histogrammabschnitt (80) variiert wird unddass die Häufigkeitsschwelle (61) um einen festgelegten Wert (63) abgesenkt wird, wenn ein Scheitelwert (72) von Zählereignissen in einem Histogrammabschnitt (80) die Häufigkeitsschwelle (61) von unten durchstößt und/oder die Häufigkeitsschwelle (61) um einen festgelegten Wert (65) erhöht wird, wenn ein Scheitelwert (72) von Zählereignissen in einem Histogrammabschnitt (80) die Häufigkeitsschwelle (81) von oben durchstößt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000060225430T2
DE102014106465B3
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
EP000002315045B1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 17/10
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