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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung und Verfahren zur Prozessüberwachung mehrerer Teiglinge in einer Prozesskammer |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
BIBA - Bremer Institut für Produktion und Logistik GmbH, 28359, Bremen, DE
;
Verein zur Förderung des Technologietransfers an der Hochschule Bremerhaven e.V., 27572, Bremerhaven, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Bargen, Markus van, 27572, Bremerhaven, DE
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Fritzel, Tobias, 27572, Bremerhaven, DE
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Giefer, Lino, 28357, Bremen, DE
;
Lütjen, Michael, Dr.-Ing., 28357, Bremen, DE
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Rohde, Ann-Kathrin, Dipl.-Ing., 28357, Bremen, DE
;
Stukenborg, Florian, 27572, Bremerhaven, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
02.10.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018124378 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
02.04.2020 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
A21C 13/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
A21C 13/00
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
A21C 13/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Vorrichtung zur Erfassung von Zuständen von Teiglingen in einer Prozesskammer wobei die Vorrichtung umfasst: a) ein optisches Modul, das dazu eingerichtet ist, Messdaten, die Entfernungsinformationen umfassen und einzelnen Teiglingen zuordenbar sind, zu ermitteln; b) ein Datenverarbeitungssystem, das dazu eingerichtet ist, Prozessparameter einzelner Teiglinge aus den Messdaten zu bestimmen und Parameterverläufe aus einem zeitlichen Verlauf der Prozessparameter zu ermitteln; und c) ein Steuerungssystem, das dazu eingerichtet ist, Betriebsparameter der Prozesskammer in Abhängigkeit der Parameterverläufe automatisch zu steuern. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000019831635A1
DE102014210672A1
DE202012002303U1
US000006077552A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
A21C 13/00
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