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Bibliografische Daten

Dokument DE102018118653B4 (Seiten: 15)

Bibliografische Daten Dokument DE102018118653B4 (Seiten: 15)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zum Erfassen eines Objekts
71/73 Anmelder/Inhaber PA SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
72 Erfinder IN Gimpel, Hartmut, 79194, Gundelfingen, DE
22/96 Anmeldedatum AD 01.08.2018
21 Anmeldenummer AN 102018118653
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 30.07.2020
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01S 7/481 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G02B 5/02 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01S 17/08
G01S 17/89
G01S 7/481
G01S 7/4816
G01S 7/4817
G01S 7/4876
MCD-Hauptklasse MCM G01S 7/481 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G02B 5/02 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung eines Objekts (20) in einem Überwachungsbereich (18) mit einem Lichtsender (12) zum Aussenden von Sendelicht (16) eines Wellenlängenbereichs, mit einem Lichtempfänger (32) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus dem an dem Objekt (20) remittierten Sendelicht (22), mit einer dem Lichtempfänger (32) vorgeordneten Empfangsoptik (24), die mindestens ein erstes optisches Element (26) zur Fokussierung des remittieren Sendelichts (22), ein zweites optisches Element (28) zur Verringerung des Einfallswinkels und ein auf den Wellenlängenbereich abgestimmtes optisches Filter (30) zur Unterdrückung von Fremdlicht aufweist, sowie mit einer Auswertungseinheit (34), die dafür ausgebildet ist, aus dem Empfangssignal eine Objektinformation zu erzeugen, wobei das zweite optische Element (28) lichtzerstreuende Eigenschaften aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite optische Element als Zerstreu-Axiconlinse nicht-abbildende Eigenschaften aufweist und lediglich Kanten der lichtempfindlichen Fläche des Lichtempfängers (32) scharf abbildet, während im Inneren zwischen diesen Kanten eine nicht-abbildende Umverteilung stattfindet.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102017208052A1
DE102017213465A1
WO002018213200A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT DE000019757849B4
DE102015224715A1
EP000002910969A1
EP000003339887A1
US000004106855A
US000004184749A
US020170289524A1
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente EP000004194890A1
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01S 7/481
G02B 5/02