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Titel |
TI |
[DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von dreidimensionalen Bilddaten |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Gimpel, Hartmut, Dr., 79194, Gundelfingen, DE
;
Marra, Martin, 79280, Au, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
11.06.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018113848 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
12.12.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 17/89
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G02B 26/00
(2006.01)
G02B 3/12
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/24
G01S 17/42
G01S 17/894
G01S 7/4815
G01S 7/4816
G01S 7/4817
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 17/894
(2020.01)
G02B 26/00
(2006.01)
G02B 3/12
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von dreidimensionalen Bilddaten aus einem Überwachungsbereich (18) angegeben, der eine Beleuchtungseinheit (12) zum Beleuchten des Überwachungsbereichs (18) mit moduliertem Sendelicht (14), einen Lichtempfänger (24) zum gleichzeitigen Lichtempfang des von Objekten in dem Überwachungsbereich (18) remittierten Sendelichts (20) an mindestens zwei Orten (32) in einem gegenseitigen Abstand entsprechend einem ersten Auflösungsraster (34) sowie eine Steuer- und Auswertungseinheit (30) aufweist, die dafür ausgebildet ist, Lichtlaufzeiten aus Eigenschaften des modulierten und remittierten Sendelichts (14, 20) zu bestimmen und durch mindestens eine Messwiederholung mit Lichtempfang von mindestens zwei anderen, gegen das erste Auflösungsraster (34) verschobenen Orten (32) dreidimensionalen Bilddaten in einem zweiten Auflösungsraster feiner als das erste Auflösungsraster erfasst. Dabei ist die Beleuchtungseinheit (12) auf Teilbereiche (32) des Überwachungsbereichs (18) konzentriert und die Steuer- und Auswertungseinheit (30) weiterhin dafür ausgebildet, die Beleuchtungseinheit (12) an die jeweiligen Orte (32) anzupassen. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE102015121839A1
US020160274589A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE102004014041A1
EP000002469296A1
EP000002746808A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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WO002024208758A1
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 17/89
G02B 26/00
G02B 3/12
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