| 54 |
Titel |
TI |
[DE] Kontaktloser optischer Dehnungsmesssensor |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Technische Universität Clausthal, 38678, Clausthal-Zellerfeld, DE
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
Kowarsch, Robert, 38678, Clausthal-Zellerfeld, DE
;
Rembe, Christian, 38678, Clausthal-Zellerfeld, DE
;
Wang, Fangjian, 38678, Clausthal-Zellerfeld, DE
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
17.05.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018111921 |
|
Anmeldeland |
AC |
DE |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
21.11.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/16
(2006.01)
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/161
G01B 9/02095
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/16
(2006.01)
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] [65] Die Erfindung betrifft einen kontaktloser optischer Dehnungssensor (100) aufweisend: eine Laserstrahlquelle (110) zur Erzeugung eines ersten Laserstrahls (120) und eines zweiten Laserstrahls (121), welcher gegenüber dem ersten Laserstrahls (120) frequenzverschoben ist; eine erste Vorrichtung (130) und eine zweite Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls; dadurch gekennzeichnet, dass der kontaktlose optische Dehnungssensor (100) ausgebildet und eingerichtet ist, dass der erste Laserstrahl (120) und der zweite Laserstrahl (121) auf einer Oberfläche (141) eines Messobjektes (140) unter einem Winkel (&thgr;) zueinander zur Interferenz gebracht werden, wodurch ein Interferenzstreifenmuster (142) auf der Oberfläche (141) des Messobjekts (140) erzeugt wird; dass ein erster Bereich (143) des Interferenzstreifenmusters (142) auf die erste Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls; und ein zweiter Bereich (144) des Interferenzstreifenmusters (142) auf die zweite Vorrichtung (132) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls abgebildet wird, wobei der erste Bereich (143) und der zweite Bereich (144) disjunkt sind; und ein Signal der ersten Vorrichtung (131) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls und ein Signal der zweiten Vorrichtung (132) zum Messen einer Intensität eines Laserstrahls hinsichtlich der Frequenz und/oder der Phase differentiell ausgewertet werden. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE102012211549B3
DE102014216278A1
EP000000851210B1
EP000002589924A1
US000004436419A
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
EXNER, C., u.a.: In-plane laser-doppler-velocimeter sensor head for the measurement of surface structural intensity. Acta Acustica united with Acustica, 1998, 84. Jg., Nr. 6, S. 1055-1065. p 0;
LEE, Ju-Yi,u.a.: Measurement of in-plane displacement by wavelength-modulated heterodyne speckle interferometry. Applied optics, 2012, 51. Jg., Nr. 8, S. 1095-1100. p 0;
REMBE, Christian [u.a.]: Measuring MEMS in motion by laser doppler vibrometry. In: Optical inspection of microsystems. Boca Raton : Taylor & Francis, 2007. S. 245-292. - ISBN 0-8493-3682-1. p 0
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/16
|
