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Titel |
TI |
[DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung und Abstandsbestimmung eines Objekts |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Gimpel, Hartmut, 79194, Gundelfingen, DE
;
Marra, Martin, 79280, Au, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
17.04.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018109014 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
17.10.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 7/483
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01S 17/08
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 17/10
G01S 7/4865
G01S 7/4873
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 7/483
(2006.01)
G01S 17/10
(2020.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 17/08
(2006.01)
G01S 7/4865
(2020.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung und Abstandsbestimmung mit einem Lichtsender (12) zum wiederholten Aussenden von Lichtpulsen für jeweils eine Einzelmessung, einem Lichtempfänger (22) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus einem von dem Objekt (20) remittierten Lichtpuls, einer ersten Abtasteinheit (34) zum Abtasten des Empfangssignals mit einer niedrigen Schwelle und einer zweiten Abtasteinheit (36) zum Abtasten des Empfangssignals mit einer hohen Schwelle, einem Speicher (42) zum Ablegen von Abtastwerten der ersten Abtasteinheit (34) und/oder der zweiten Abtasteinheit (36) oder daraus abgeleiteter Größen und einer Steuer- und Auswertungseinheit (38, 40) angegeben, die dafür ausgebildet ist, nach mehreren Einzelmessungen mit Hilfe der in dem Speicher (42) abgelegten Daten einen Messwert für die Lichtlaufzeit von dem Sensor (10) zu dem Objekt (20) zu bestimmen und weiterhin Abtastwerte der ersten Abtasteinheit (34) oder daraus abgeleitete Größen nur dann in dem Speicher (42) abzulegen, wenn die zweite Abtasteinheit (36) für dieselbe Einzelmessung ein Überschreiten der hohen Schwelle feststellt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE102011056963B3
DE102014106463A1
EP000003438699A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
EP000001972961A2
EP000002942644A1
EP000003185038A1
US020120162632A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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CN000116411282A
DE102019132613A1
DE102019132613B4
EP000003770633A1
EP000004249948A1
EP000004249950A1
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 17/08
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