| 54 |
Titel |
TI |
[DE] Optischer Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern und Verfahren zum Übertragen von Licht |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Universität Paderborn, 33098, Paderborn, DE
|
| 72 |
Erfinder |
IN |
Ebers, Lena, 59590, Geseke, DE
;
Förstner, Jens, Prof., 44789, Bochum, DE
;
Hammer, Manfred, 33824, Werther, DE
|
| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
05.04.2018 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102018108110 |
|
Anmeldeland |
AC |
DE |
|
Veröffentlichungsdatum |
PUB |
31.01.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
|
| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G02B 6/26
(2006.01)
|
| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G02B 6/12
(2006.01)
|
|
IPC-Zusatzklasse |
ICA |
|
|
IPC-Indexklasse |
ICI |
|
|
Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G02B 2006/12061
G02B 2006/12147
G02B 6/122
|
|
MCD-Hauptklasse |
MCM |
G02B 6/26
(2006.01)
|
|
MCD-Nebenklasse |
MCS |
G02B 6/12
(2006.01)
|
|
MCD-Zusatzklasse |
MCA |
|
| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft einen optischen Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern. Dazu ist eine Anordnung vorgesehen aus einem ersten optischen Schichtwellenleiter (2) und einem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3), wobei der erste optische Schichtwellenleiter (2) und der zweite optische Schichtwellenleiter (3) voneinander verschiedene über ihre jeweilige Länge konstante Dicken (d, r) aufweisen, der erste optische Schichtwellenleiter (2) mit dem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3) mittels einer optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) verbunden ist, die über ihre gesamte Länge (w) eine Dicke (h) aufweist, die zwischen der Dicke (d) des ersten optischen Schichtwellenleiters (2) und der Dicke (r) des zweiten optischen Schichtwellenleiters (3) liegt. Erfindungsgemäß ist die Dicke (h) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) über die gesamte Länge (w) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) konstant. Damit wird eine Möglichkeit für einen effizienten und mit geringen Verlusten behafteten Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern mit unterschiedlicher Dicke bereitgestellt. |
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
CIVITCI, Fehmi; HAMMER, Manfred; HOEKSTRA, Hugo J.W.M.: Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence. In: Optical and Quantum Electronics, Bd. 46, 2014, H. 3, S. 477-490. ISSN 1572-817X (E); 0030-4077 (P). DOI: 10.1007/s11082-013-9789-7. URL: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11082-013-9789-7.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0;
HAMMER, Manfred: Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver. In: Optics Communications, Bd. 338, 2015, S. 447-456. ISSN 1873-0310 (E); 0030-4018 (P). DOI: 10.1016/j.optcom.2014.09.087. URL: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030401814009341/pdfft?md5=12b1a916f644af23ad95e499a344ad28&pid=1-s2.0-S0030401814009341-main.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0
|
| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
Hammer, Manfred „Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver.“ in: Optics communications, Vol. 338, 01.03.2015, S. 447-456 1;
Çivitci, F.; Hammer, Manfred; Hoekstra, Hugo „Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence“ in: Optical and quantum electronics, Vol. 46, Nr. 3, 2014, S. 477-490 1
|
|
Zitierende Dokumente |
|
Dokumente ermitteln
|
|
Sequenzprotokoll |
|
|
|
Prüfstoff-IPC |
ICP |
G02B 6/26
|
