Bibliografische Daten

Dokument DE102018108110B3 (Seiten: 9)

Bibliografische Daten Dokument DE102018108110B3 (Seiten: 9)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Optischer Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern und Verfahren zum Übertragen von Licht
71/73 Anmelder/Inhaber PA Universität Paderborn, 33098, Paderborn, DE
72 Erfinder IN Ebers, Lena, 59590, Geseke, DE ; Förstner, Jens, Prof., 44789, Bochum, DE ; Hammer, Manfred, 33824, Werther, DE
22/96 Anmeldedatum AD 05.04.2018
21 Anmeldenummer AN 102018108110
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 31.01.2019
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G02B 6/26 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G02B 6/12 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G02B 2006/12061
G02B 2006/12147
G02B 6/122
MCD-Hauptklasse MCM G02B 6/26 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G02B 6/12 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft einen optischen Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern. Dazu ist eine Anordnung vorgesehen aus einem ersten optischen Schichtwellenleiter (2) und einem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3), wobei der erste optische Schichtwellenleiter (2) und der zweite optische Schichtwellenleiter (3) voneinander verschiedene über ihre jeweilige Länge konstante Dicken (d, r) aufweisen, der erste optische Schichtwellenleiter (2) mit dem zweiten optischen Schichtwellenleiter (3) mittels einer optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) verbunden ist, die über ihre gesamte Länge (w) eine Dicke (h) aufweist, die zwischen der Dicke (d) des ersten optischen Schichtwellenleiters (2) und der Dicke (r) des zweiten optischen Schichtwellenleiters (3) liegt. Erfindungsgemäß ist die Dicke (h) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) über die gesamte Länge (w) der optischen Schichtwellenleiterstruktur (4) konstant. Damit wird eine Möglichkeit für einen effizienten und mit geringen Verlusten behafteten Übergang zwischen zwei optischen Schichtwellenleitern mit unterschiedlicher Dicke bereitgestellt.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP CIVITCI, Fehmi; HAMMER, Manfred; HOEKSTRA, Hugo J.W.M.: Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence. In: Optical and Quantum Electronics, Bd. 46, 2014, H. 3, S. 477-490. ISSN 1572-817X (E); 0030-4077 (P). DOI: 10.1007/s11082-013-9789-7. URL: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2Fs11082-013-9789-7.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0;
HAMMER, Manfred: Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver. In: Optics Communications, Bd. 338, 2015, S. 447-456. ISSN 1873-0310 (E); 0030-4018 (P). DOI: 10.1016/j.optcom.2014.09.087. URL: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030401814009341/pdfft?md5=12b1a916f644af23ad95e499a344ad28&pid=1-s2.0-S0030401814009341-main.pdf [abgerufen am 17.09.2018]. p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP Hammer, Manfred „Oblique incidence of semi-guided waves on rectangular slab waveguide discontinuities: A vectorial QUEP solver.“ in: Optics communications, Vol. 338, 01.03.2015, S. 447-456 1;
Çivitci, F.; Hammer, Manfred; Hoekstra, Hugo „Semi-guided plane wave reflection by thin-film transitions for angled incidence“ in: Optical and quantum electronics, Vol. 46, Nr. 3, 2014, S. 477-490 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G02B 6/26