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Bibliografische Daten

Dokument DE102018101847A1 (Seiten: 20)

Bibliografische Daten Dokument DE102018101847A1 (Seiten: 20)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten
71/73 Anmelder/Inhaber PA SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
72 Erfinder IN Clemens, Klaus, 79367, Weisweil, DE ; Gimpel, Hartmut, 79194, Gundelfingen, DE ; Hug, Gottfried, 79183, Waldkirch, DE
22/96 Anmeldedatum AD 26.01.2018
21 Anmeldenummer AN 102018101847
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 01.08.2019
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01S 17/02 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01S 7/481 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01S 17/42
G01S 17/931
G01S 7/4811
G01S 7/4812
G01S 7/4813
G01S 7/4815
G01S 7/4817
MCD-Hauptklasse MCM
MCD-Nebenklasse MCS G01S 7/481 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA G01S 17/931 (2020.01)
57 Zusammenfassung AB [DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich (20) angegeben, der eine um eine Drehachse (18) bewegliche Abtasteinheit (12, 58), mehrere Abtastmodule (22) zur periodischen Abtastung des Überwachungsbereichs (20) und zum Erzeugen von entsprechenden Empfangssignalen sowie eine Auswertungseinheit (48) zur Gewinnung von Informationen über die Objekte aus den Empfangssignalen aufweist, wobei die Abtastmodule (22) mindestens einen Lichtsender (24) zum Aussenden mehrerer voneinander separierter Lichtstrahlen (28) und mindestens einen Lichtempfänger (36) zum Erzeugen der Empfangssignale aus den von Objekten remittierten Lichtstrahlen (32) umfassen. Dabei ist mindestens ein Abtastmodul (22) bezüglich seiner Hauptblickrichtung um einen Kippwinkel (&bgr;) verkippt und/oder um einem Drehwinkel (&ggr;) verdreht angeordnet, wobei der Kippwinkel (&bgr;) gegen eine zentrale Abtastebene senkrecht zu der Drehachse (18) und der Drehwinkel (&ggr;) um eine Achse entsprechend der Hauptblickrichtung gemessen ist.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102004014041A1
US020100020306A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT DE000019757849B4
EP000002863176A2
US000008767190B2
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01S 17/02
G01S 7/481
G05B 9/02