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Bibliographic data Document DE102017203077B3 (Pages: 10)
INID	Criterion	Field	Contents
54	Title	TI	[DE] Herstellungsverfahren, Testverfahren und Testvorrichtung f�r R�ntgenstrahlungsk�pfe
71/73	Applicant/owner	PA	Carl Zeiss Meditec AG, 07745, Jena, DE
72	Inventor	IN	Reynolds, Robert, 74541, Vellberg, DE
22/96	Application date	AD	Feb 24, 2017
21	Application number	AN	102017203077
	Country of application	AC	DE
	Publication date	PUB	Feb 1, 2018
33 31 32	Priority data	PRC PRN PRD
51	IPC main class	ICM	G01B 21/08 (2006.01)
51	IPC secondary class	ICS	A61N 5/10 (2006.01) G01B 21/20 (2006.01) H01J 35/00 (2006.01)
	IPC additional class	ICA
	IPC index class	ICI
	Cooperative patent classification	CPC	G01B 21/08 G01B 21/20 H01J 35/116 H01J 35/32
	MCD main class	MCM	G01B 21/08 (2006.01)
	MCD secondary class	MCS	A61N 5/10 (2006.01) G01B 21/20 (2006.01) H01J 35/00 (2006.01)
	MCD additional class	MCA
57	Abstract	AB	[DE] Ein Verfahren zum Testen eines R�ntgenstrahlungskopfs mit einem abschnittsweise schwermetallbeschichteten Hohlstift beinhaltet: Bereitstellen des Hohlstifts; Einf�hren eines Messkopfs mit einer streifenf�rmigen Sensoranordnung in den Hohlstift; Erfassen der Geometrie eines Abschnitts der Innenwandung des Hohlstifts mit dem Messkopf; Ausf�hren des Messkopfs aus dem Hohlstift; wenigstens teilweises Beschichten des Abschnitts der Innenwandung des Hohlstifts mit dem Schwermetall; erneutes Einf�hren des Messkopfs in den Hohlstift; Erfassen der Geometrie des beschichteten Abschnitts der Innenwandung des Hohlstifts mit dem Messkopf; und Ermitteln der Beschichtungsdicke an verschiedenen Positionen der Innenwandung.
56	Cited documents identified in the search	CT	WO002013014161A1
56	Cited documents indicated by the applicant	CT
56	Cited non-patent literature identified in the search	CTNP
56	Cited non-patent literature indicated by the applicant	CTNP
	Citing documents		Determine documents
	Sequence listings
	Search file IPC	ICP	G01B 21/08 G01B 21/20 H01J 35/00