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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche entlang einer Vermessungsrichtung |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147, Köln, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Engels, Jost, 85049, Ingolstadt, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
18.07.2017 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102017116095 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
24.01.2019 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01C 7/02
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 11/03
(2006.01)
G01C 3/08
(2006.01)
G01C 5/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/03
G01B 5/20
G01C 3/08
G01C 5/00
G01C 7/02
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01C 7/02
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 11/03
(2006.01)
G01C 3/08
(2006.01)
G01C 5/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Zum Vermessen eines Höhenprofils einer Oberfläche (4) entlang einer Vermessungsrichtung (7) wird eine bewegliche Einheit (2) gegenüber einer stationären Einheit (1) ohne mechanische Führung an der stationären Einheit (1) in der Vermessungsrichtung (7) über die Oberfläche (4) verfahren. Dabei wird von einer der Einheiten zu der anderen der Einheiten mindestens ein Lichtstrahl (6, 8, 9) längs der Oberfläche (4) ausgesandt, der in Höhenrichtung eine definierte Ausrichtung zu der Vermessungsrichtung (7) aufweist. Der Lichtstrahl (6, 8, 9) wird von der anderen der Einheiten direkt mit einem optischen Positionssensor (10) empfangen, der in der Höhenrichtung über mindestens 10 cm ausgedehnt ist, so dass es für eine Relativlage der anderen der Einheiten und des Lichtstrahls (6, 8, 9) in der Höhenrichtung empfindlich ist. An der beweglichen Einheit (2) wird eine Höhenlage der Oberfläche (4) gegenüber dem Lichtstrahl (6, 8, 9) festgehalten oder erfasst. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
JP002000009463A
US000006292258B1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE000010149206A1
DE000010155488A1
DE000019856510A1
DE102008045386A1
EP000001703300A1
EP000002639548A1
US000001428520A
US000003026164A
US000004422322A
US000005549412A
US000006750953B1
US020100131237A1
WO002002010681A1
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
JP 2000 - 9 463 A (Patent Translate) p 0
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/03
G01C 3/08
G01C 5/00
G01C 7/02
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