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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
J.-M. Nivet, K. Körner, U. Droste, M. Fleischer, H. Tiziani, W. Osten mit dem Titel „Depth-scanning fringe projection technique (DSFP) with 3-D calibration“, in Proceedings of SPIE Vol. 5144, S. 443-449 (2003) 1;
K. Körner und R. Windecker, „Absolute macroscopic 3-D measurement with the innovative depth-scanning fringe projection technique (DSFP),“ Optik 112, 433-441 (2001) 1;
K. Körner, R. Windecker, M. Fleischer, H. Tiziani, „One-grating projection for absolute three-dimensional profiling“, Optical Engineering, Vol. 40 No. 8, S. 1653- 1660 (August 2001) 1;
M. Ishihara, Y .Nakazato, H. Sasaki, M. Tonooka, M. Yamamoto, Y. Otani, T. Yoshizawa mit dem Titel „Three-dimensional surface measurement using grating projection method by detecting phase and contrast“, in Proc. SPIE Vol.3740, pp.114-117(1999) 1;
Peter de Groot mit Vorteil verwendet werden. Dieser ist im Fachartikel [7] „Derivations of algorithms for phase-shifting interferometry using the concept of a data-sampling window“ auf Seite 4727 angegeben, der in der Fachzeitschrift Applied Optics 34 (22), 4723-4730 (1995) 1;
R. Windecker, M. Fleischer und H. Tiziani mit dem Titel „Threedimensional topometry with stereo microscopes“ in der Fachzeitschrift Optical Engineering 36, (12) S. 3372 - 7777 (1997) 1;
T. Bothe, W. Osten, A. Gesierich, W. Jüptner mit dem Titel „Compact 3D-Camera“, Proc. of SPIE 4778, S. 48-59 (2002) 1
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