54 |
Title |
TI |
[DE] Verfahren zur Auslegung eines Bauteils sowie Computerprogramm |
71/73 |
Applicant/owner |
PA |
GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC (n. d. Ges. d. Staates Delaware), Mich., Detroit, US
|
72 |
Inventor |
IN |
Biasutti, Manfredi, 65428, Rüsselsheim, DE
;
Koch, Niels, 65428, Rüsselsheim, DE
;
Rösen, Hartwig, 65428, Rüsselsheim, DE
;
Schuler, Felix, 65428, Rüsselsheim, DE
|
22/96 |
Application date |
AD |
Jan 25, 2017 |
21 |
Application number |
AN |
102017000655 |
|
Country of application |
AC |
DE |
|
Publication date |
PUB |
Aug 9, 2018 |
33 31 32 |
Priority data |
PRC PRN PRD |
|
51 |
IPC main class |
ICM |
G06F 17/50
(2006.01)
|
51 |
IPC secondary class |
ICS |
B21D 22/20
(2006.01)
|
|
IPC additional class |
ICA |
|
|
IPC index class |
ICI |
|
|
Cooperative patent classification |
CPC |
G06F 2111/06
G06F 2113/24
G06F 30/00
G06F 30/17
G06F 30/23
|
|
MCD main class |
MCM |
G06F 17/50
(2006.01)
|
|
MCD secondary class |
MCS |
B21D 22/20
(2006.01)
|
|
MCD additional class |
MCA |
|
57 |
Abstract |
AB |
[DE] Zur Auslegung von Werkzeugen für Umformprozesse werden regelmäßig Simulationsprogramme herangezogen, welche den Umformprozess simulieren und auf diese Weise Möglichkeiten zur Optimierung des Werkzeugs und/oder des Bauteils geben, ohne das Werkzeug tatsächlich aufbauen zu müssen. Derartige Simulationsprogramme basieren oftmals auf FEM-Analysen und modellieren beispielsweise die Umformprozesse bei der Bearbeitung.Es wird ein Verfahren zur Auslegung eines Bauteils 1 vorgeschlagen, wobei das Bauteil 1 mindestens einen Kantenbereich 7a,b aufweist, wobei der Kantenbereich 7a,b durch einen Umformprozess hergestellt wird, wobei in dem Umformprozess ein Stempel 12 in einer Wirkrichtung 14 in eine Matrize 14 eingeführt wird, wobei der Kantenbereich 7a,b in seiner Längserstreckung in einer oder mehreren Ebenen gewinkelt oder senkrecht zu der Wirkrichtung W verläuft, wobei der Kantenbereich 7a,b in einem Querschnitt senkrecht zu seiner Längserstreckung einen Kehlenbereich 5a,b und/oder einen Schulterbereich 6a,b und/oder aufweist, wobei der Kehlenbereich 5a,b durch einen ersten Doppel-S-Verlauf 8,11 und/oder der Schulterbereich 6a,b durch einen zweiten Doppel-S-Verlauf 9,10 gebildet ist, wobei in einer Optimierung des Bauteils mindestens ein Doppel-S-Verlauf 8,9,10,11 als Optimierungsparameterfeld variiert wird. |
56 |
Cited documents identified in the search |
CT |
|
56 |
Cited documents indicated by the applicant |
CT |
DE000010040973A1
|
56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
|
56 |
Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
|
|
Citing documents |
|
Determine documents
|
|
Sequence listings |
|
|
|
Search file IPC |
ICP |
B21D 22/20
G06F 17/50
|