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Document DE102017000655A1 (Pages: 13)

Bibliographic data Document DE102017000655A1 (Pages: 13)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Verfahren zur Auslegung eines Bauteils sowie Computerprogramm
71/73 Applicant/owner PA GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC (n. d. Ges. d. Staates Delaware), Mich., Detroit, US
72 Inventor IN Biasutti, Manfredi, 65428, Rüsselsheim, DE ; Koch, Niels, 65428, Rüsselsheim, DE ; Rösen, Hartwig, 65428, Rüsselsheim, DE ; Schuler, Felix, 65428, Rüsselsheim, DE
22/96 Application date AD Jan 25, 2017
21 Application number AN 102017000655
Country of application AC DE
Publication date PUB Aug 9, 2018
33
31
32
Priority data PRC
PRN
PRD


51 IPC main class ICM G06F 17/50 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS B21D 22/20 (2006.01)
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC G06F 2111/06
G06F 2113/24
G06F 30/00
G06F 30/17
G06F 30/23
MCD main class MCM G06F 17/50 (2006.01)
MCD secondary class MCS B21D 22/20 (2006.01)
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Zur Auslegung von Werkzeugen für Umformprozesse werden regelmäßig Simulationsprogramme herangezogen, welche den Umformprozess simulieren und auf diese Weise Möglichkeiten zur Optimierung des Werkzeugs und/oder des Bauteils geben, ohne das Werkzeug tatsächlich aufbauen zu müssen. Derartige Simulationsprogramme basieren oftmals auf FEM-Analysen und modellieren beispielsweise die Umformprozesse bei der Bearbeitung.Es wird ein Verfahren zur Auslegung eines Bauteils 1 vorgeschlagen, wobei das Bauteil 1 mindestens einen Kantenbereich 7a,b aufweist, wobei der Kantenbereich 7a,b durch einen Umformprozess hergestellt wird, wobei in dem Umformprozess ein Stempel 12 in einer Wirkrichtung 14 in eine Matrize 14 eingeführt wird, wobei der Kantenbereich 7a,b in seiner Längserstreckung in einer oder mehreren Ebenen gewinkelt oder senkrecht zu der Wirkrichtung W verläuft, wobei der Kantenbereich 7a,b in einem Querschnitt senkrecht zu seiner Längserstreckung einen Kehlenbereich 5a,b und/oder einen Schulterbereich 6a,b und/oder aufweist, wobei der Kehlenbereich 5a,b durch einen ersten Doppel-S-Verlauf 8,11 und/oder der Schulterbereich 6a,b durch einen zweiten Doppel-S-Verlauf 9,10 gebildet ist, wobei in einer Optimierung des Bauteils mindestens ein Doppel-S-Verlauf 8,9,10,11 als Optimierungsparameterfeld variiert wird.
56 Cited documents identified in the search CT
56 Cited documents indicated by the applicant CT DE000010040973A1
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
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Search file IPC ICP B21D 22/20
G06F 17/50