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Titel |
TI |
[DE] Messvorrichtung zum Vermessen des Biegeverhaltens einer Probe |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686, München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kleer, Michael, Dr., 67663, Kaiserslautern, DE
;
Linn, Joachim, Dr., 67663, Kaiserslautern, DE
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Pena Vina, Eduardo, 67663, Kaiserslautern, DE
;
Schneider, Fabio, 67663, Kaiserslautern, DE
;
Weyh, Thorsten, 67663, Kaiserslautern, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
01.12.2016 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102016223900 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
20.12.2018 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 3/20
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01N 2203/0023
G01N 2203/0274
G01N 3/20
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 3/20
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Messvorrichtung zur Vermessung eines Biegeverhaltens einer länglichen Probe,mit zumindest zwei Halterungen zur Befestigung der Probe,wobei die Halterungen um eine Rotationsachse momentfrei drehbar gelagert sind,wobei die Rotationsachsen senkrecht zu einer gedachten Verbindungsgeraden angeordnet sind, die durch beide Halterungen verläuft,wobei die Distanz der Halterungen voneinander verkleinerbar ist,sowie mit einem ersten Sensor zur Messung einer Abhängigkeit zwischen einer durch das Verkleinern der Distanz der Halterungen ausgeübten oder resultierenden Kraft und der Distanz der Halterungen. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000004104822A1
DE000004323718A1
EP000001136810A2
JP000S63290938A
US020080216585A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
DIN EN 3475-704 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 3/20
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