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Titel |
TI |
[DE] Kraftfahrzeug mit wenigstens einer Tür und einem Radarsensor, Verfahren zur Steuerung einer Antriebseinrichtung für eine Tür eines Kraftfahrzeugs |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
AUDI AG, 85045, Ingolstadt, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Khlifi, Rachid, Dr., 85748, Garching, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
14.10.2016 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102016220084 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
19.04.2018 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
E05F 15/73
(2015.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
E05F 15/73
E05Y 2400/86
E05Y 2900/531
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
E05F 15/73
(2015.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Kraftfahrzeug (1), aufweisend wenigstens eine Tür (2) mit einem Türgriff (3) und eine der Tür (2) zugeordnete Antriebseinrichtung (9) zum automatischen Öffnen und Schließen der Tür (2), wobei in dem Türgriff (3) ein Radarsensor (4, 4a, 4b, 4c, 4d) integriert ist und das Kraftfahrzeug (1) eine Steuereinrichtung (10) aufweist, die zur Auswertung der Radardaten hinsichtlich einer sich dem Türgriff (3) nähernden Hand (11) und zum Ansteuern der Antriebseinrichtung (9) zum Öffnen der Tür (2) bei einer erkannten, sich dem Türgriff (3) nähernden Hand (11) ausgebildet ist. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010208573A1
DE102005017250A1
DE102008056201A1
DE102011000514A1
DE102013010994A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
LEE, Jri [et al.]: A fully-integrated 77-GHz FMCW radar transceiver in 65-nm CMOS technology. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC), Vol. 45, 2010, No. 12, S. 2746-2756. - ISSN 0018-9200 p 0
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
Jri Lee et al., „A Fully Integrated 77-GHz FMCW Radar Transceiver in 65-nm CMOS Technology“, IEEE Journal of Solid State Circuits 45 (2010), S. 2746-2755 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
E05F 15/73
G05B 9/02 ES
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