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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von Gaskomponenten in einem Gasgemisch |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Process-Electronic GmbH, 73092, Heiningen, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Falkowski, Edgar, 73312, Geislingen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
18.02.2016 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102016202537 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
07.12.2017 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 25/18
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
C21D 11/00
C23C 8/24
G01N 25/18
G01N 25/20
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 25/18
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Bestimmung der Konzentration von N Gaskomponenten in einem Gasgemisch, das mindestens N Gaskomponenten mit N größer 2 aufweist, wobei ein Sensorelement (1) oder mehrere Sensorelemente (1) auf mindestens N – 1 vorgegebene Temperaturwerte zur Bestimmung temperaturabhängiger Wärmeleitfähigkeiten gebracht wird/werden, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Sensorelement (1) mindestens auf einen minimalen Temperaturwert (Tmin) in einem Bereich von ca. 60°C bis ca. 350°C und auf einen maximalen Temperaturwert (Tmax) in einem Bereich von über ca. 350°C gebracht wird, wobei der maximale Temperaturwert (Tmax) oberhalb der Spalttemperatur mindestens einer Gaskomponente des Gasgemischs liegt und der minimale Temperaturwert (Tmin) unterhalb der Spalttemperatur dieser Gaskomponente liegt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000003711511C1
DE000019644051A1
DE102010046829A1
DE102013100307A1
EP000001222454B1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01N 25/18
G01N 25/20
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