Bibliografische Daten

Dokument DE102016119340A1 (Seiten: 23)

Bibliografische Daten Dokument DE102016119340A1 (Seiten: 23)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Herstellung eines Sensors, Sensor und Verwendung eines Sensors
71/73 Anmelder/Inhaber PA Heraeus Sensor Technology GmbH, 63450, Hanau, DE
72 Erfinder IN Dietmann, Stefan, 63755, Alzenau, DE ; Moos, Ralf, Dr., 95447, Bayreuth, DE ; Schubert, Michael, 95448, Bayreuth, DE ; Turwitt, Martin, Dr., 63486, Bruchköbel, DE ; Wienand, Karlheinz, Dr., 63741, Aschaffenburg, DE ; Zinkevich, Matsvei, Dr., 63773, Goldbach, DE
22/96 Anmeldedatum AD 11.10.2016
21 Anmeldenummer AN 102016119340
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 12.04.2018
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM C23C 24/04 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01K 7/18 (2006.01)
G01K 7/20 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B32B 18/00
C04B 2235/3206
C04B 2235/3217
C04B 2235/3236
C04B 2235/3246
C04B 2235/60
C04B 35/03
C04B 35/10
C04B 35/465
C04B 35/48
C04B 35/62222
C23C 24/04
G01F 1/69
G01F 1/692
G01K 1/08
G01K 13/024
G01K 2205/04
G01K 7/183
G01K 7/186
H01B 3/12
H01C 7/006
MCD-Hauptklasse MCM C23C 24/04 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01K 7/18 (2006.01)
G01K 7/20 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines Sensors, insbesondere eines Temperatursensors, umfassend mindestens eine elektrisch leitfähige Schicht und mindestens eine weitere Schicht, insbesondere eine Passivierungsschicht und/oder eine Isolationsschicht. Erfindungsgemäß wird die elektrisch leitfähige Schicht und/oder die weitere Schicht, insbesondere die Passivierungsschicht und/oder die Isolationsschicht, mittels Aerosol-Abscheidung (Aerosol Deposition Method, ADM) hergestellt.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102011081279A1
EP000000973020B1
EP000001231294A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP Norm ASTM D257-07 1;
Norm DIN 66133 1;
Norm DIN EN 60749-8: 2003-12 1;
Norm DIN EN ISO 11885 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B32B 18/00
C23C 24/00
C23C 24/04
G01K 1/08
G01K 1/14
G01K 7/18