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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Durchstich-Erkennung beim thermisch unterstützten Durchstechen eines Werkstücks |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Messer Cutting Systems GmbH, 64823, Groß-Umstadt, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Bayram, Murat Cetin, 64823, Groß-Umstadt, DE
;
Müller, Thomas, 64823, Groß-Umstadt, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.03.2016 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102016105560 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
11.05.2017 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 7/14
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B23K 26/382
(2014.01)
B23K 26/50
(2014.01)
B23K 26/70
(2014.01)
B23K 31/10
(2006.01)
B23Q 17/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B23K 2103/05
B23K 2103/10
B23K 2103/12
B23K 26/0342
B23K 26/048
B23K 26/0622
B23K 26/082
B23K 26/38
B23K 26/382
B23K 26/40
B23K 26/50
B23K 26/705
B23K 31/10
B23K 7/002
B23Q 17/00
G01B 7/14
G01R 25/005
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 7/14
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B23K 26/382
(2014.01)
B23K 26/50
(2014.01)
B23K 26/70
(2014.01)
B23K 31/10
(2006.01)
B23Q 17/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Bei bekannten Verfahren zur Durchstich-Erkennung beim thermisch-unterstützten Durchstechen eines Werkstücks wird das Werkstück mit einem ersten Wechselsignal beaufschlagt. Um hiervon ausgehend ein Verfahren anzugeben, das eine schnelle und genaue Erkennung eines erfolgten Durchstichs ermöglicht, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, dass das Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst: a) Erfassen eines von dem ersten Wechselsignal in einer vom Werkstück beabstandeten Messelektrode hervorgerufenen, zweiten Wechselsignals, b) Ermitteln der Phasenverschiebung zwischen erstem und zweitem Wechselsignal unter Ausgabe eines Phasenverschiebungssignals, c) Erfassen eines zeitlichen Verlaufs des Phasenverschiebungssignals oder einer daraus abgeleiteten Messgröße in einem vorgegebenen Zeitintervall, wobei ein erfolgter Werkstück-Durchstich daran erkannt wird, dass das Phasenverschiebungssignal oder die daraus abgeleitete Messgröße im Zeitintervall innerhalb eines vorgegebenen Schwankungsbereichs liegt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE102010039525A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B23K 26/382
B23K 26/38
B23K 26/40
B23K 26/50
B23K 26/70
B23K 31/10
G01B 7/14
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