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Bibliographic data Document DE102016105560B3 (Pages: 18)
INID	Criterion	Field	Contents
54	Title	TI	[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Durchstich-Erkennung beim thermisch unterst�tzten Durchstechen eines Werkst�cks
71/73	Applicant/owner	PA	Messer Cutting Systems GmbH, 64823, Gro�-Umstadt, DE
72	Inventor	IN	Bayram, Murat Cetin, 64823, Gro�-Umstadt, DE ; M�ller, Thomas, 64823, Gro�-Umstadt, DE
22/96	Application date	AD	Mar 24, 2016
21	Application number	AN	102016105560
	Country of application	AC	DE
	Publication date	PUB	May 11, 2017
33 31 32	Priority data	PRC PRN PRD
51	IPC main class	ICM	G01B 7/14 (2006.01)
51	IPC secondary class	ICS	B23K 26/382 (2014.01) B23K 26/50 (2014.01) B23K 26/70 (2014.01) B23K 31/10 (2006.01) B23Q 17/00 (2006.01)
	IPC additional class	ICA
	IPC index class	ICI
	Cooperative patent classification	CPC	B23K 2103/05 B23K 2103/10 B23K 2103/12 B23K 26/0342 B23K 26/048 B23K 26/0622 B23K 26/082 B23K 26/38 B23K 26/382 B23K 26/40 B23K 26/50 B23K 26/705 B23K 31/10 B23K 7/002 B23Q 17/00 G01B 7/14 G01R 25/005
	MCD main class	MCM	G01B 7/14 (2006.01)
	MCD secondary class	MCS	B23K 26/382 (2014.01) B23K 26/50 (2014.01) B23K 26/70 (2014.01) B23K 31/10 (2006.01) B23Q 17/00 (2006.01)
	MCD additional class	MCA
57	Abstract	AB	[DE] Bei bekannten Verfahren zur Durchstich-Erkennung beim thermisch-unterst�tzten Durchstechen eines Werkst�cks wird das Werkst�ck mit einem ersten Wechselsignal beaufschlagt. Um hiervon ausgehend ein Verfahren anzugeben, das eine schnelle und genaue Erkennung eines erfolgten Durchstichs erm�glicht, wird erfindungsgem�� vorgeschlagen, dass das Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst: a) Erfassen eines von dem ersten Wechselsignal in einer vom Werkst�ck beabstandeten Messelektrode hervorgerufenen, zweiten Wechselsignals, b) Ermitteln der Phasenverschiebung zwischen erstem und zweitem Wechselsignal unter Ausgabe eines Phasenverschiebungssignals, c) Erfassen eines zeitlichen Verlaufs des Phasenverschiebungssignals oder einer daraus abgeleiteten Messgr��e in einem vorgegebenen Zeitintervall, wobei ein erfolgter Werkst�ck-Durchstich daran erkannt wird, dass das Phasenverschiebungssignal oder die daraus abgeleitete Messgr��e im Zeitintervall innerhalb eines vorgegebenen Schwankungsbereichs liegt.
56	Cited documents identified in the search	CT	DE102010039525A1
56	Cited documents indicated by the applicant	CT
56	Cited non-patent literature identified in the search	CTNP
56	Cited non-patent literature indicated by the applicant	CTNP
	Citing documents		Determine documents
	Sequence listings
	Search file IPC	ICP	B23K 26/382 B23K 26/38 B23K 26/40 B23K 26/50 B23K 26/70 B23K 31/10 G01B 7/14