Bibliografische Daten

Dokument DE102016009650A1 (Seiten: 20)

Bibliografische Daten Dokument DE102016009650A1 (Seiten: 20)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms
71/73 Anmelder/Inhaber PA Blue Ocean Nova AG, 73569, Eschach, DE ; Hochschule Reutlingen, 72762, Reutlingen, DE
72 Erfinder IN Bäuerle, Tim, 72116, Mössingen, DE ; Lorenz, Günter, Prof. Dr., 72072, Tübingen, DE ; Mannhardt, Joachim, 73569, Eschach, DE ; Ostertag, Edwin, Dr., 72762, Reutlingen, DE ; Rebner, Karsten, Prof. Dr., 72762, Reutlingen, DE
22/96 Anmeldedatum AD 08.08.2016
21 Anmeldenummer AN 102016009650
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 08.02.2018
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01N 21/15 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS G01N 21/05 (2006.01)
G01N 21/85 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B29C 2948/92
B29C 48/92
G01N 2021/155
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
MCD-Hauptklasse MCM G01N 21/15 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS B29C 48/74 (2019.01)
B29C 48/92 (2019.01)
G01N 21/05 (2006.01)
G01N 21/85 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms S mit einem Einlassbereich E, einem Messbereich M und einen Auslassbereich A sowie mit einer ersten Weiche W1 und einer zweiten Weiche W2 und einem Umlenkbereich U, wobei die beiden Weichen W1, W2 in einem ersten Schaltzustand Z1 einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Messbereich M über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Umkenkbereich U über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE000020000773U1
US000004034219A
US020070272004A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B29C 47/74
B29C 47/92
G01N 21/05
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01