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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Blue Ocean Nova AG, 73569, Eschach, DE
;
Hochschule Reutlingen, 72762, Reutlingen, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Bäuerle, Tim, 72116, Mössingen, DE
;
Lorenz, Günter, Prof. Dr., 72072, Tübingen, DE
;
Mannhardt, Joachim, 73569, Eschach, DE
;
Ostertag, Edwin, Dr., 72762, Reutlingen, DE
;
Rebner, Karsten, Prof. Dr., 72762, Reutlingen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
08.08.2016 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102016009650 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
08.02.2018 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01N 21/15
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 21/05
(2006.01)
G01N 21/85
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B29C 2948/92
B29C 48/92
G01N 2021/155
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01N 21/15
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B29C 48/74
(2019.01)
B29C 48/92
(2019.01)
G01N 21/05
(2006.01)
G01N 21/85
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Materialstroms S mit einem Einlassbereich E, einem Messbereich M und einen Auslassbereich A sowie mit einer ersten Weiche W1 und einer zweiten Weiche W2 und einem Umlenkbereich U, wobei die beiden Weichen W1, W2 in einem ersten Schaltzustand Z1 einen durchgängigen ersten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Messbereich M über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden und in einem zweiten Schaltzustand einen durchgängigen zweiten Materialdurchströmungsraum vom Einlassbereich E über die erste Weiche W1 durch den Umkenkbereich U über die zweite Weiche W2 bis zum Auslassbereich A ausbilden. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000020000773U1
US000004034219A
US020070272004A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
B29C 47/74
B29C 47/92
G01N 21/05
G01N 21/15
G01N 21/53
G01N 21/85
G05D 23/01
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