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Titel |
TI |
[DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung eines Objekts |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Gimpel, Hartmut, Dr., 79194, Gundelfingen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
15.12.2015 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102015121839 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
22.06.2017 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01S 7/481
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01S 17/88
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01S 17/42
G01S 7/4815
G01S 7/4817
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01S 7/481
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01S 17/88
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung eines Objekts in einem Überwachungsbereich (20) mit mindestens einem Lichtsender (22, 22a) zum Aussenden mehrerer voneinander separierter Lichtstrahlen (26), einem Lichtempfänger (34) zum Erzeugen von Empfangssignalen aus an dem Objekt remittierten Lichtstrahlen (30) und einer Auswertungseinheit (46) zur Gewinnung von Informationen über das Objekt aus den Empfangssignalen angegeben. Dabei ist dem Lichtsender (22, 22a) eine gemeinsame Sendeoptik (24) vorgeordnet, welche die Strahlform und/oder die Strahlrichtung der mehreren Lichtstrahlen (26) verändert. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010156282A1
DE102004014041A1
US000004656462A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE000019757849B4
EP000001927867B1
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
EN 61496 1;
Norm EN 13849 1
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Zitierende Dokumente |
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DE102017107666A1
DE102017129100A1
DE102017129100B4
DE102017223618A1
DE102018101846A1
DE102018113848A1
DE102018124974A1
DE102018124974B4
DE102018125826A1
DE102019212600A1
DE102020215663A1
EP000003517999B1
EP000003637131A3
EP000003640667A1
EP000003712647A1
EP000003712647B1
EP000003805790A1
US000011313954B2
US000011698442B2
US000011914074B2
WO002019121435A1
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01S 17/88
G01S 7/481
G01V 8/20
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