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Title |
TI |
[DE] Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung eines Objekts |
71/73 |
Applicant/owner |
PA |
SICK AG, 79183, Waldkirch, DE
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72 |
Inventor |
IN |
Gimpel, Hartmut, Dr., 79194, Gundelfingen, DE
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22/96 |
Application date |
AD |
Dec 15, 2015 |
21 |
Application number |
AN |
102015121839 |
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Country of application |
AC |
DE |
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Publication date |
PUB |
Jun 22, 2017 |
33 31 32 |
Priority data |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC main class |
ICM |
G01S 7/481
(2006.01)
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51 |
IPC secondary class |
ICS |
G01S 17/88
(2006.01)
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IPC additional class |
ICA |
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IPC index class |
ICI |
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Cooperative patent classification |
CPC |
G01S 17/42
G01S 7/4815
G01S 7/4817
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MCD main class |
MCM |
G01S 7/481
(2006.01)
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MCD secondary class |
MCS |
G01S 17/88
(2006.01)
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MCD additional class |
MCA |
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57 |
Abstract |
AB |
[DE] Es wird ein optoelektronischer Sensor (10) zur Erfassung eines Objekts in einem Überwachungsbereich (20) mit mindestens einem Lichtsender (22, 22a) zum Aussenden mehrerer voneinander separierter Lichtstrahlen (26), einem Lichtempfänger (34) zum Erzeugen von Empfangssignalen aus an dem Objekt remittierten Lichtstrahlen (30) und einer Auswertungseinheit (46) zur Gewinnung von Informationen über das Objekt aus den Empfangssignalen angegeben. Dabei ist dem Lichtsender (22, 22a) eine gemeinsame Sendeoptik (24) vorgeordnet, welche die Strahlform und/oder die Strahlrichtung der mehreren Lichtstrahlen (26) verändert. |
56 |
Cited documents identified in the search |
CT |
DE000010156282A1 DE102004014041A1 US000004656462A
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56 |
Cited documents indicated by the applicant |
CT |
DE000019757849B4 EP000001927867B1
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56 |
Cited non-patent literature identified in the search |
CTNP |
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56 |
Cited non-patent literature indicated by the applicant |
CTNP |
EN 61496 1; Norm EN 13849 1
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Citing documents |
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Determine documents
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Sequence listings |
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Search file IPC |
ICP |
G01S 17/88
G01S 7/481
G01V 8/20
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