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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Kalibrierparametern zur metrischen Kalibrierung einer plenoptischen Kamera |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147, Köln, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Strobl, Klaus Herbert, 81677, München, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
02.12.2015 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102015120965 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
06.04.2017 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/24
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01C 11/00
(2006.01)
G01C 25/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/24
G03B 35/10
G03B 43/00
G06T 2207/10052
G06T 7/80
H04N 17/002
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/24
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01C 11/00
(2006.01)
G01C 25/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Ermittlung von Kalibrierparametern zur metrischen Kalibrierung einer plenoptischen Kamera. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass mit der plenoptischen Kamera zumindest ein Kalibriermuster mit bekannter Geometrie aus N verschiedenen Perspektiven zur Erzeugung von Bilddatensätzen BDi,TB und BDi,2D mit i = 1, 2, ..., N und N ≥ 1 aufgenommen wird, wobei BDi,TB Tiefenbilder sind, die jeweils Tiefeninformationen v(Sx, Sy) an Projektionspunkten Sx, Sy in der Kamera wiedergeben, und BDi,2D Totalfokusbilder sind, die jeweils Helligkeitsinformationen an den Projektionspunkten Sx, Sy in der Kamera wiedergeben; ausschließlich basierend auf den Bilddatensätzen BDi,2D, der Detektorelementgröße p und der bekannten Geometrie des Kalibriermusters mit den Merkmalen M ein Ermitteln folgender Kalibrierungsparameter KP1 erfolgt: Brennweite f der Hauptlinse L, und einer optimal fokussierten Tiefe Czf(M) von Projektionen der geometrischen Merkmale M des Kalibriermusters innerhalb der Kamera, und ausschließlich basierend auf den Bilddatensätzen BDi,TB und den Kalibrierungsparametern KP1 ein Ermitteln folgender Kalibrierungsparameter KP2 erfolgt: eines Abstandes h zwischen einer Bezugsebene des Multi-Linsenarrays MLA und einer Bezugsebene der Hauptlinse L, und ein Ermitteln eines Abstandes b zwischen der Bezugsebene des Multi-Linsenarrays MLA und einer Bezugsebene des Detektors DET erfolgt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
US020110169994A1 US020140146184A1
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
C. Heinze, “Design and Test of a Calibration Method for the Calculation of Metrical Range Values for 3D Light Field Cameras”, Master Arbeit, Fachhochschule Westküste und Fakultät für Ingenieur- und Computerwissenschaften, Hamburg Universität für angew. Wissensch. (2014) 0; C. Heinze, ?Design and Test of a Calibration Method for the Calculation of Metrical Range Values for 3D Light Field Cameras?, Master Arbeit, Fachhochschule Westküste und Fakultät für Ingenieur- und Computerwissenschaften, Hamburg Universität für angew. Wissensch. (2014) n; N. Zeller, F. Quint, U. Stilla, „Establishing a Probabilistic Depth Map from Focused Plenoptic Cameras“, IEEE 2015 International Conference on 3D Vision (3DV), S.91 - 99, Oct. 2015 0; N. Zeller, F. Quint, U. Stilla, ?Establishing a Probabilistic Depth Map from Focused Plenoptic Cameras?, IEEE 2015 International Conference on 3D Vision (3DV), S.91 - 99, Oct. 2015 n
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/24
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