Bibliografische Daten

Dokument DE102015009960A1 (Seiten: 12)

Bibliografische Daten Dokument DE102015009960A1 (Seiten: 12)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Keramischer DSC-Chip mit intregrierter Einrichtung zur Probenmassenbestimmung
71/73 Anmelder/Inhaber PA Moos, Ralf, Prof. Dr. Ing., 95447, Bayreuth, DE
72 Erfinder IN Brandenburg, Annica, Dipl.-Ing., 95494, Gesees, DE ; Kita, Jaroslaw, Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Moos, Ralf, Prof. Dr.-Ing., 95447, Bayreuth, DE ; Wappler, Eberhard, Dipl.-Ing., 63694, Limeshain, DE
22/96 Anmeldedatum AD 05.08.2015
21 Anmeldenummer AN 102015009960
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 09.02.2017
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01N 25/20 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01N 25/4813
G01N 5/04
MCD-Hauptklasse MCM G01N 25/20 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung die in keramischer Mehrlagentechnik hergestellt ist und einen Sensor zur simultanen Bestimmung von physikalischchemischen Kenngrößen wie Umwandlungstemperaturen, spezifischen Wärmekapazitäten oder Enthalpien und der Änderung der Probenmasse beim Aufheizen oder Abkühlen darstellt, bestehend aus Probenaufnahmevorrichtung, Referenz, Heizung und Messfühler, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Bestimmung der Probemasse in diesen Sensor integriert ist oder sich an diesem Sensor befindet. Mit der Vorrichtung können Phasenübergänge, Umwandlungsenthalpien, Wärmekapazitäten und Gewichtsänderungen gemessen werden, um Schmelz- und Siedepunkte, Glasübergänge sowie Zersetzungsverläufe und damit die Einsatzgrenzen von Materialien und Werkstoffen zu bestimmen.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT EP000001717566A1
WO002014043508A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT DE102009056338A1
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP J. Kita, A. Brandenburg, R. Moos: FEM-based modeling of the temperature distribution influence on melting process in ceramic differential micro-calorimeter, Eurosensors XXVIII, September 7–10, 2014, Brescia, Italy, A4P-H05, Procedia Engineering, 87, 412–415 (2014), doi: 10.1016/j.proeng.2014.11.277 1;
J. Kita, W. Missal, E. Wappler, F. Bechtold, R. Moos: Development of a Miniaturized Ceramic Differential Calorimeter Device in LTCC Technology, Journal of Ceramic Science and Technology, 4 (2014) 137–144, doi: 10.4416/JCST2013-00008 1;
W. Missal, J. Kita, E. Wappler, F. Bechtold, R. Moos: Calorimetric Sensitivity and Thermal Resolution of a Novel Miniaturized Ceramic DSC Chip in LTCC Technology, Thermochimica Acta, 543, (2012), 142–149, doi: 10.1016/j.tca.2012.05.019 1;
W. Missal, J. Kita, E. Wappler, F. Bechtold, R. Moos: Miniaturized Ceramic Differential Scanning Calorimeter with Integrated Oven and Crucible in LTCC Technology, Sensors and Actuators A: Physical, 172 (2011), 21–26, doi: 10.1016/j-sna.2011.01.025 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01N 25/20