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Bibliografische Daten

Dokument DE102015006697B4 (Seiten: 21)

Bibliografische Daten Dokument DE102015006697B4 (Seiten: 21)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Optisches Verfahren und Anordnung zur Eigenspannungsmessung, insbesondere an beschichteten Objekten
71/73 Anmelder/Inhaber PA Universität Stuttgart, 70174, Stuttgart, DE
72 Erfinder IN Gadow, Rainer, Dr., 84544, Aschau, DE ; Körner, Klaus, Dr., 70563, Stuttgart, DE ; Osten, Wolfgang, Dr., 70563, Stuttgart, DE ; Pedrini, Giancarlo, Dr., 70197, Stuttgart, DE
22/96 Anmeldedatum AD 21.05.2015
21 Anmeldenummer AN 102015006697
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 02.08.2018
33
31
32
Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01B 11/16 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS B05C 11/00 (2006.01)
G01N 3/28 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B05C 11/00
B05D 1/00
G01B 11/16
G01B 11/24
G01L 1/06
G01L 5/0047
MCD-Hauptklasse MCM G01B 11/16 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS B05C 11/00 (2006.01)
G01N 3/28 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Verfahren zum Ermitteln von Eigenspannungen eines Objekts (5), vorzugsweise eines beschichteten Objekts (5), umfassendBeaufschlagen einer Oberfläche (8) des Objekts (5) mit Laserlicht und Erzeugen eines Musters (7.2; 7.3; 16-21; 31) von Löchern und/oder lokal erwärmten Stellen im Objekt (5);Ermitteln der Oberflächenverformungen nach dem Beaufschlagen des Objekts (5) mit dem Laserlicht mittels eines optischen Verformungs-Messverfahrens;Ermitteln der im Objekt (5) vorliegenden Eigenspannungen aus den gemessenen Oberflächenverformungen,wobei das Erzeugen des Musters (7.2; 7.3; 16-21; 31) mittels einer optischen Abtastvorrichtung erfolgt, welcheeine optische Ablenk- und/oder Modulationsanordnung zur steuerbaren Ablenkung und/oder Modulation des Laserlichts; und/odereine Fokussieranordnung zur steuerbaren Fokussierung des Laserlichts umfasst,dadurch gekennzeichnet, dassdas Muster (7.2; 7.3; 16-21; 31) variabel ist; unddas Verfahren ferner ein Anpassen der Form des Musters (7.2; 7.3; 16-21; 31) und/oder der Anordnung des Musters (7.2; 7.3; 16-21; 31) auf der Oberfläche des Objekts (5) an die Topographie der Oberfläche des Objekts (5) und/oder an die erwarteten Eigenspannungen und/oder deren Gradienten in dem Objekt (5) umfasst, wobei das Anpassen der Form des Musters (7.2; 7.3; 16-21; 31) ein Anpassen der Verteilung der Löcher und/oder der lokal erwärmten Stellen umfasst.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT AU000004147289A
AU001989041472A1
JP002004170210A
US000005339152A
US000005920017A
US000007154081B1
US020080123079A1
WO002013108208A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP BALDI, A.: Residual stress measurement using hole drilling and integrated digital image correlation techniques. In: Experimental Mechanics. 2014, Bd. 54, H. 3, S. 379-391. ISSN 1741-2765 (E); 0014-4851 (P). DOI: 10.1007/s11340-013-9814-6. [abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
FITZPATRICK, M.E. [u.a.]: Determination of residual stresses by X-ray diffraction – Issue 2. In: Measurement Good Practice Guide No. 52. 2005, S. 1-77. ISSN 1744-3911. URL:http://www.npl.co.uk/upload/pdf/Determination_of_Residual_Stresses_by_X-ray_Diffraction_-_Issue_2.pdf [abgerufen am 18.01.2016]. 0;
FITZPATRICK, M.E. [u.a.]: Determination of residual stresses by X-ray diffraction ? Issue 2. In: Measurement Good Practice Guide No. 52. 2005, S. 1-77. ISSN 1744-3911. URL: http://www.npl.co.uk/upload/pdf/Determination_of_Residual_Stresses_by_X-ray_Diffraction_- _Issue_2.pdf [abgerufen am 18.01.2016]. n;
JP 2004-170210 A (Maschinenübersetzung) JPO, AIPN [online] [abgerufen am 18.01.2016] p 0;
KORSUNSKY, Alexander M.; SEBASTIANI, Marco; BEMPORAD, Edoardo: Residual stress evaluation at the micrometer scale: Analysis of thin coatings by FIB milling and digital image correlation. In: Surface and Coatings Technology. 2010, Bd. 205, H. 7, S. 2393-2403. ISSN 0257-8972 (E); 1879-3347 (E); 0257-8972 (P). DOI: 10.1016/j.surfcoat.2010.09.033. [abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
MATEJICEK, J.; SAMPATH, S.: In situ measurement of residual stresses and elastic moduli in thermal sprayed coatings part 1: apparatus and analysis. In: Acta Materialia. 2003, Bd. 51, H. 3, S. 863-872. ISSN 1873-2453 (E); 1359-6454 (P). DOI: 10.1016/S1359-6454(02)00478-0.Bibliographieinformationen ermittelt über:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1359645402004780 [abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
RABUNG, M. [u.a.]: Non-destructive evaluation of the micro residual stresses of IIIrd order by using micro magnetic methods. In: NDT & E International. 2014, Bd. 63, S. 7-10. ISSN 1879-1174 (E); 0963-8695 (P). DOI: 10.1016/j.ndteint.2013.12.011. Bibliographieinformationen ermittelt über:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0963869513001655 [abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
SCHAJER, G.S.: Relaxation methods for measuring residual stresses: techniques and opportunities. In: Experimental Mechanics. 2010, Bd. 50, H. 8, S. 1117-1127. ISSN 1741-2765 (E); 0014-4851 (P). DOI:10.1007/s11340-010-9386-7. [abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
V. Martínez-García [u.a.]: "Residual Stress Measurement with Laser-Optical and Mechanical Methods", Advanced Materials Research, Vol. 996, pp. 256-261, Aug. 2014. DOI: 10.4028/www.scientific.net/AMR.996.256 [abgerufen am 25.01.2016]. p 0;
VIOTTI, Matias R. [u.a.]: Residual stress measurement using a radial in-plane speckle interferometer and laser annealing: Preliminary results. In: Optics and Lasers in Engineering. 2004, Bd. 42, H. 1, S. 71-84. ISSN 1873-0302 (E); 0143-8166 (P). DOI: 10.1016/S0143-8166(03)00069-1.[abgerufen am 18.01.2016]. p 0;
WENZELBURGER, Martin; LOPEZ, Daniel; GADOW, Rainer: Methods and application of residual stress analysis on thermally sprayed coatings and layer composites. In: Surface and Coatings Technology. 2006, Bd. 201, H. 5, S. 1995-2001. ISSN 0257-8972 (E); 1879-3347 (E); 0257-8972 (P). DOI: 10.1016/j.surfcoat.2006.04.040. [abgerufen am 18.01.2016]. p 0
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP A. Baldi, „Residual Stress Measurement Using Hole Drilling and Integrated Digital Image Correlation Techniques“, Experimental Mechanics (2014) 54:379-391 1;
A. M. Korsunsky, M. Sebastiani, E. Bemporad, „Residual stress evaluation at the micrometer scale: Analysis of thin coatings by FIB milling and digital image correlation“, Surface & Coatings Technology 205 (2010) 2393-2403 1;
ASTM Standard E 837-01 1;
G. S. Schajer, „Relaxation Methods for Measuring Residual Stresses: Techniques and Opportunities“, Experimental Mechanics, 1117-1127, 2010 1;
J. Matejicek, S. Sampath, „In situ measurement of residual stresses and elastic moduli in thermal sprayed coatings. Part 1: apparatus and analysis“, Acta Mater., Vol. 51, Nr. 3, 863-872, 2003 1;
M. Rabung, I. Altpeter, C. Boller, G. Dobmann, H.G. Herrmann,„ Non-destructive evaluation of the micro residual stresses of IIIrd order by using micro magnetic methods“, NDT & E International, Volume 63, April 2014, Pages 7-10 1;
M. Viotti, R. Suterio, A. Albertazzi, G. Kaufmann, „Residual stress measurement using a radial in-plane speckle interferometer and laser annealing: preliminary results“, Optics and Laser in Engineering, 42, pp 71-84, 2004 1;
M. Wenzelburger, D. López, R. Gadow, „Methods and application of residual stress analysis on thermally sprayed coatings and layer composites“, Surf. Coat. Technol., 201 (5), 1995-2001, 2006 1;
M.E. Fitzpatrick, A.T. Fry, P. Holdway, F.A. Kandil, J. Shackleton and L. Suominen, „Determination of Residual Stresses by X-ray Diffraction - Issue 2“, Measurement Good Practice Guide No. 52, National Physical laboratory 1;
V. Martinez-Garcia et al, „Residual Stress Measurement with Laser-Optical and Mechanical Methods“, Advanced Materials Research, Vol. 996, pp. 256-261, August 2014 1
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Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01B 11/16
G01N 3/28