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Document DE102014219237A1 (Pages: 20)

Bibliographic data Document DE102014219237A1 (Pages: 20)
INID Criterion Field Contents
54 Title TI [DE] Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Betriebsparametern von Schaltelementen eines Umrichters
71/73 Applicant/owner PA Siemens Aktiengesellschaft, 80333, München, DE
72 Inventor IN Galek, Marek, 80339, München, DE ; Honsberg-Riedl, Martin, 83317, Teisendorf, DE
22/96 Application date AD Sep 24, 2014
21 Application number AN 102014219237
Country of application AC DE
Publication date PUB Apr 7, 2016
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32
Priority data PRC
PRN
PRD


51 IPC main class ICM H02M 1/00 (2006.01)
51 IPC secondary class ICS H02M 1/08 (2006.01)
H02M 1/32 (2007.01)
H02M 7/48 (2006.01)
IPC additional class ICA
IPC index class ICI
Cooperative patent classification CPC H02M 1/32
H02M 7/487
MCD main class MCM
MCD secondary class MCS H02M 1/08 (2006.01)
H02M 1/32 (2007.01)
H02M 7/487 (2007.01)
H02M 7/48 (2007.01)
MCD additional class MCA
57 Abstract AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von Betriebsparametern der Schaltelemente (S1, ..., S6) eines Umrichters (10), insbesondere einer Drehstrombrücke, zum Ansteuern einer Last (20). Der Umrichter (10) umfasst eine Anzahl an Schaltelementen (S1, ..., S6), die in zumindest zwei Zweigen verschaltet sind sowie eine Umrichtersteuerung (11) zur Ansteuerung der Anzahl an Schaltelementen (S1, ..., S6) gemäß einem vorgegebenen Schaltzustandsmuster, wobei das Schaltzustandsmuster zumindest zwei unterschiedliche Schaltzustände des Umrichters (10) umfasst und wobei ein Schaltzustand zu einem gegebenen Zeitpunkt eine erste Teilanzahl an leitend geschalteten Schaltelementen (S1, ..., S6) und eine zweite Teilanzahl an sperrend geschalteten Schaltelementen (S1, ..., S6) umfasst, und eine Anzahl an Spannungsmessmitteln, wobei jedem der Schaltelemente (S1, ..., S6) ein Spannungsmessmittel zugeordnet ist, das dazu ausgebildet ist, im Betrieb des zugeordneten Schaltelements (S1, ..., S6) eine zwischen dessen Kollektor (C) und Emitter (E) anliegende Kollektor-Emitter-Spannung (UCE1, ..., UCE6) zu messen oder ermitteln. Bei dem Verfahren wird aus einer bekannten temperaturabhängigen Kollektorspannungs-/Emitterstrom-Kennlinienschar der Schaltelemente und einzelnen durch Messung bekannten Betriebsparametern mancher Schaltelemente im Betrieb iterativ für mehrere Schaltzustände für die gerade leitend geschalteten Schaltelemente (S1, ..., S6) die Kollektor-Emitter-Spannung (UCE1, ..., UCE6) ermittelt und, basierend auf der Kennlinienschar, für jedes der leitend geschalteten Schaltelemente als Betriebsparameter ein durch das jeweilige Schaltelement (S1, ..., S6) fließender Strom und die Temperatur ermittelt.
56 Cited documents identified in the search CT DE000010351843A1
DE102012208460A1
JP002011200033A
56 Cited documents indicated by the applicant CT
56 Cited non-patent literature identified in the search CTNP
56 Cited non-patent literature indicated by the applicant CTNP
Citing documents Determine documents
Sequence listings
Search file IPC ICP H02M 1/00
H02M 1/08 IGB
H02M 7/48
H03K 17/14