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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Betriebsparametern von Schaltelementen eines Umrichters |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Siemens Aktiengesellschaft, 80333, München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Galek, Marek, 80339, München, DE
;
Honsberg-Riedl, Martin, 83317, Teisendorf, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.09.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102014219237 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
07.04.2016 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H02M 1/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
H02M 1/08
(2006.01)
H02M 1/32
(2007.01)
H02M 7/48
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
H02M 1/32
H02M 7/487
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
H02M 1/08
(2006.01)
H02M 1/32
(2007.01)
H02M 7/487
(2007.01)
H02M 7/48
(2007.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von Betriebsparametern der Schaltelemente (S1, ..., S6) eines Umrichters (10), insbesondere einer Drehstrombrücke, zum Ansteuern einer Last (20). Der Umrichter (10) umfasst eine Anzahl an Schaltelementen (S1, ..., S6), die in zumindest zwei Zweigen verschaltet sind sowie eine Umrichtersteuerung (11) zur Ansteuerung der Anzahl an Schaltelementen (S1, ..., S6) gemäß einem vorgegebenen Schaltzustandsmuster, wobei das Schaltzustandsmuster zumindest zwei unterschiedliche Schaltzustände des Umrichters (10) umfasst und wobei ein Schaltzustand zu einem gegebenen Zeitpunkt eine erste Teilanzahl an leitend geschalteten Schaltelementen (S1, ..., S6) und eine zweite Teilanzahl an sperrend geschalteten Schaltelementen (S1, ..., S6) umfasst, und eine Anzahl an Spannungsmessmitteln, wobei jedem der Schaltelemente (S1, ..., S6) ein Spannungsmessmittel zugeordnet ist, das dazu ausgebildet ist, im Betrieb des zugeordneten Schaltelements (S1, ..., S6) eine zwischen dessen Kollektor (C) und Emitter (E) anliegende Kollektor-Emitter-Spannung (UCE1, ..., UCE6) zu messen oder ermitteln. Bei dem Verfahren wird aus einer bekannten temperaturabhängigen Kollektorspannungs-/Emitterstrom-Kennlinienschar der Schaltelemente und einzelnen durch Messung bekannten Betriebsparametern mancher Schaltelemente im Betrieb iterativ für mehrere Schaltzustände für die gerade leitend geschalteten Schaltelemente (S1, ..., S6) die Kollektor-Emitter-Spannung (UCE1, ..., UCE6) ermittelt und, basierend auf der Kennlinienschar, für jedes der leitend geschalteten Schaltelemente als Betriebsparameter ein durch das jeweilige Schaltelement (S1, ..., S6) fließender Strom und die Temperatur ermittelt. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010351843A1
DE102012208460A1
JP002011200033A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
H02M 1/00
H02M 1/08 IGB
H02M 7/48
H03K 17/14
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