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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Vorrichtungen zur Erfassung der Oberflächenstruktur und Beschaffenheit einer Probe |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Marx, Jürgen, 56077, Koblenz, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Eberl, Heinrich Alexander, 87509, Immenstadt, DE
;
Marx, Jürgen, 56077, Koblenz, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
04.03.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102014203918 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
15.09.2016 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/24
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 21/31
(2006.01)
G01N 21/3563
(2014.01)
G01S 17/10
(2006.01)
G01S 17/32
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
A61B 5/0062
A61B 5/1172
G01B 11/0625
G01B 11/24
G01N 21/3563
G01N 21/4738
G01N 21/8422
G01S 17/36
G01S 17/42
G01S 17/89
G01S 7/4802
G01S 7/4812
G01S 7/4816
G01S 7/4817
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/24
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 21/31
(2006.01)
G01N 21/3563
(2014.01)
G01S 17/89
(2020.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Verfahren zur Erfassung der Oberflächenstruktur und Beschaffenheit einer Probe mittels einer Abtasteinrichtung, nämlich zur Erfassung chemischer Substanzen in Form von Fingerspurenfett auf und in der Probenoberfläche, wobei die Probe und die Abtasteinrichtung relativ zueinander bewegt werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Probenoberfläche mit einem von der Abtasteinrichtung (2) abgegebenen Lichtstrahl (L) zeilenweise bestrahlt, der von der Probenoberfläche reflektierte Lichtstrahl (R) erfasst und aus Abweichungen des reflektierten Lichtstrahls (R) vom abgegebenen Lichtstrahl (L) ein digitales Bild der Topographie der Probenoberfläche und der Intensität des reflektierten Lichtstrahles (R) erzeugt wird, wobei der Lichtstrahl (L) mit einer Wellenlänge abgegeben wird, die dem Wellenlängenbereich des Absorptionsspektrums der Beschaffenheit der Probenoberfläche, nämlich einer zu erfassenden chemischen Substanz in Form von Fingerspurenfett entspricht, wobei die Abtasteinrichtung (2) einen Lichtstrahl abgibt, der im Infrarotspektrum breitbandig Licht in einem Wellenzahlbereich zwischen 800 und 3.750 cm–1 emittiert. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010022143A1
DE102011111168A1
WO002006000552A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
A61B 5/00
G01B 11/06
G01B 11/24
G01N 21/31
G01N 21/3563
G01N 21/84
G01S 17/10
G01S 17/32
G01S 17/36
G01S 17/42
G01S 17/89
G01S 7/481
G01S 7/48
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