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Titel |
TI |
[DE] Vorrichtung für die korrelative Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Lichtmikroskopie |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Leibniz-Institut für Neue Materialien gemeinnützige GmbH, 66123, Saarbrücken, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
de Jonge, Niels, Prof. Dr., 66386, St. Ingbert, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
12.03.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102014103360 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
17.09.2015 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
H01J 37/26
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
H01J 37/10
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B82Y 5/00
G02B 21/02
G02B 21/06
G02B 21/18
G02B 21/34
H01J 2237/2443
H01J 2237/24455
H01J 2237/2802
H01J 37/228
H01J 37/244
H01J 37/26
Y10S 977/927
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
H01J 37/26
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
H01J 37/10
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die korrelative Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Lichtmikroskopie. Um eine Vorrichtung für das korrelative Mikroskopieren zu schaffen, die eine verbesserte Kombination von lichtmikroskopischem und STEM-Verfahren ermöglicht, wird im Rahmen der Erfindung vorgeschlagen, daß ein STEM-Detektor mit einer lichtoptischen Linse kombiniert ist. Diese Detektionsvorrichtung kombiniert die effiziente Detektion mittels STEM-Mikroskopie von Materialien mit hoher Atomzahl, beispielsweise spezifischen Nanopartikel-Markern in einer Probe in einer Flüssigkeit, wie einer Zelle, mit gleichzeitiger Lichtmikroskopie. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
US020110284745A1
US020130200262A1
WO002013151421A2
WO002014007624A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
N. Liv et al., Simultaneous correlative scanning electron and high-NA fluorescence microscopy, PloS one 8 (2013) e55707, 1-9 p 0;
Zonnevylle et al., Integration of a high-NA light microscope in a scanning electron microscope, Journal of Microscopy 252 (2013), 58-70 p 0
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
H01J 37/10
H01J 37/22
H01J 37/244
H01J 37/26
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