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Titel |
TI |
[DE] Stabiles Interferometer mit hoher Étendue, insbesondere für bildgebende Fourier-Transformations-Spektroskopie ohne Objektabrasterung |
71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Friedrich-Schiller-Universität Jena, 07743, Jena, DE
;
Leibniz-Institut für Photonische Technologien e. V., 07745, Jena, DE
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72 |
Erfinder |
IN |
Heintzmann, Rainer, Prof. Dr., 07743, Jena, DE
;
Kielhorn, Martin, Dr., 06556, Ringleben, DE
;
Müller, Walter, 07743, Jena, DE
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22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
05.08.2014 |
21 |
Anmeldenummer |
AN |
102014011668 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
11.02.2016 |
33 31 32 |
Priorität |
PRC PRN PRD |
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51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 9/02
(2006.01)
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51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01N 21/45
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 9/02067
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 9/02
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01N 21/45
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Aufgabe war es, ein universell anwendbares, kompaktes und robustes Interferometer zu schaffen, mit welchem beliebig polarisiertes Licht möglichst verlustarm und mit großem Divergenzwinkel zur Interferenz gebracht werden kann. Erfindungsgemäß wird ein Interferometer vorgestellt, bei welchem ein erstes Strahlteilerelement (1) zur Strahlaufteilung einer Interferometer-Eingangsstrahlung (17) in zwei Interferometer-Teilstrahlungen (18, 19) ausgangsseitig mit zwei Retroreflektoren (4, 5) gekoppelt ist, bei welchem Ausgänge (12) der Retroreflektoren (4, 5) mit einem zweiten Strahlteilerelement (6) zur Vereinigung der Interferometer-Teilstrahlungen (18, 19) in Verbindung stehen und die beiden Retroreflektoren (4, 5) winklig aneinander angrenzend angeordnet sind, wobei zur Verkürzung der Strahlungsweglängen zumindest einer der Retroreflektoren (4, 5) im Wesentlichen keinen dem anderen Retroreflektor (4, 5) zugewandten und für die Retroreflektorfunktion bedeutungslosen Bereich aufweist. |
56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, in Recherche ermittelt |
CT |
DE000003920117A1 DE000004212143A1 US000006208424B1 US000006297504B1 US000006313918B1 US020030164948A1
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56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate, vom Anmelder genannt |
CT |
DE000010392396B4
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, in Recherche ermittelt |
CTNP |
M. V. R. K. Murty: Modification of Michelson Interferometer Using Only One Cube-Corner Prism. In: JOSA, Vol. 50, (1960), Nr. 1, 83 - 84. p 0; R. G. Sellar, G. D. Boreman,: Limiting aspect ratios of Sagnac interferometers. In: Opt. Eng., Vol. 42, (2003), Nr. 11, 3320 - 3325. p 0; S. E. Segre: Mueller calculus of polarization change in the cube-corner retroreflector. In: JOSA A, Vol. 20, (2003), Nr. 9, 1804 - 1811. 0; S. E. Segre: Mueller calculus of polarization change in the cube-corner retrore?ector. In: JOSA A, Vol. 20, (2003), Nr. 9, 1804 - 1811. n; Yann Ferrec, u.a.: Optimal geometry for Sagnac and Michelson interferometers used as spectral imagers. In: Optical Engineering, Vol. 45, (2006), Nr. 11, 115601. p 0; Zhao, Jun ; McCREERY, Richard L.: Multichannel Fourier transform Raman spectroscopy: combining the advantages of CCDs with interferometry. In: Applied spectroscopy, Vol. 50, (1996), Nr. 9, 1209 - 1214. - ISSN 0003-7028 p 0
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56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate, vom Anmelder genannt |
CTNP |
J. Liu, R. M. A. Azzam: "Polarization properties of corner-cube retroreflectors: theory and experiment", Applied Optics, Vol. 36, March 1997, 1553-1559 1; Jun Zhao, Richard L. McCreery: "Multichannel Fourier Transform Raman Spectroscopy: Combining the Advantages of CCDs with Interferometry", Applied Spectroscopy, Vol. 50, Issue 9, 1996, 1209-1214 1; M. V. R. K. Murty; "Modification of Michelson Interferometer Using Only One Cube-Corner Prism", Journal of the Optical Society of America; Vol. 50, Iss. 1, Jan. 1960, 83-84 1; M. V. R. K. Murty; "Modification of Michelson Interferometer Using Only One Cube-Corner Prism", Journal of the Optical Society of America; Vol. 50, Issue 1, Jan. 1960, 83-84 1; Peter R. Griffiths, James A. de Haseth: "Fourier transform infrared spectroscopy - Second Edition", John Wiley & Sons, Inc., Publication, New Jersey, 2007 1; Peter R. Griffiths, James A. de Haseth: "Fourier transform infrared spectroscopy - Second Edition", John Wiley & Sons, Inc., Publication, New Jersey, 2007, 97-142 1; Peter R. Griffiths, James A. de Haseth: "Fourier transform infrared spectroscopy - Second Edition", John Wiley & Sons, Inc., Publication, New Jersey, 2007, S. 112 1; Peter R. Griffiths, James A. de Haseth: "Fourier transform infrared spectroscopy - Second Edition", John Wiley & Sons, Inc., Publication, New Jersey, 2007, S. 113 1; R. Glenn Sellar, Glenn D. Boreman: "Limiting aspect ratios of Sagnac interferometers", Optical Engineering 42(11), Nov. 2003, 3320-3325 1; Sergio E. Segre, Vincenzo Zanza: "Mueller calculus of polarization change in the cube-corner retroreflector", Journal of the Optical Society of America, Vol. 20, Issue 9, Sept. 2003, 1804-1811 1; Yann Ferrec, Jean Taboury, Hervé Sauer, Pierre Chavel: "Optimal geometry for Sagnac and Michelson interferometers used as spectral imagers", Optical Engineering 45(11), Nov. 2006, 115601 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 9/02
G01N 21/45
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