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Titel |
TI |
[DE] Zeitbereichsmessverfahren mit Kalibrierung im Frequenzbereich |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
ROSENBERGER Hochfrequenztechnik GmbH & Co. KG, 83413, Fridolfing, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Zietz, Christian, 30177, Hannover, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
06.02.2014 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102014001585 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
06.08.2015 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01R 19/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01R 27/28
(2006.01)
G01R 35/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01R 19/2509
G01R 27/32
G01R 35/005
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01R 19/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01R 27/28
(2006.01)
G01R 35/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer elektrischen Spannung u(t) und/oder eines elektrischen Stroms i(t) eines HF-Signals auf einer elektrischen Leitung in einer Kalibrierebene durch Messung im Zeitbereich mit einer Zeitbereichsmesseinrichtung. In einem Messschritt werden mit einem Richtkoppler ein erster Anteil v3(t) eines ersten HF-Signals, welches ausgehend von einem Signaleingang in Richtung der Kalibrierebene durch den Richtkoppler läuft, ausgekoppelt, der Zeitbereichsmesseinrichtung an einem ersten Messeingang zugeführt und dort vermessen, und ein zweiter Anteil v4(t) eines zweiten HF-Signals, welches ausgehend von der Kalibrierebene in Richtung des Signaleingangs durch den Richtkopplers läuft, wird ausgekoppelt, der Zeitbereichsmesseinrichtung an einem zweiten Messeingang zugeführt und dort vermessen. Die Signalanteile v3(t), v4(t) werden mittels einer ersten mathematischen Operation in den Frequenzraum überführt, dann werden unter Verwendung von Kalibrierparametern absolute Wellengrößen im Frequenzraum in der Kalibrierebene bestimmt, und schließlich werden die bestimmten absoluten Wellengrößen mittels einer zweiten mathematischen Operation in die elektrische Spannung u(t) und/oder den elektrischen Strom i(t) des HF-Signals im Zeitbereich in der Kalibrierebene umgerechnet. In einem vorausgehenden Kalibrierschritt werden die Kalibrierparameter mithilfe einer Kalibriervorrichtung in Abhängigkeit von der Frequenz f und in Abhängigkeit von dem Reflexionsfaktor an zumindest einem der Messeingänge der Zeitbereichsmesseinrichtung bestimmt, und die absoluten Wellengrößen in der Kalibrierebene werden in dem Messschritt unter Verwendung der Kalibrierparameter (e00,r(&Ggr;3, &Ggr;4), e01,r(&Ggr;3, &Ggr;4), e10,r(&Ggr;3, &Ggr;4), e11,r(&Ggr;3, &Ggr;4)) bestimmt, wobei &Ggr;3, &Ggr;4 die Reflexionsfaktoren der Eingänge der Zeitbereichsmesseinrichtung sind. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
WO002003048791A2
WO002013143650A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
GILLON R. et al.: The application of large-signal calibration techniques yields unprecedented insight during TLP and ESD testing. In: EOS/ESD Symposium, 2009, S. 1 - 7. ISBN 1-58537-176-9 0;
GILLON R. et al.: The application of large-signal calibration techniques yields unprecedented insight during TLP and ESD testing. In: EOS/ESD Symposium, 2009, S. 1 - 7. ISBN 1-58537-176-9 n;
ROOT, D. et al.: X-Parameter: Das neue Paradigma zur Beschreibung nichtlinearer HF- und Mikrowellenbauelemente". In: tm - Technisches Messen, 2010, Nr. 7-8, Vol. 77. p 0;
SCOTT, J. B. et al.: A new instrument architecture for millimetre-wave time-domain signal analysis. In: ARFTG 63rd Conference, 2004, S. 47 - 52. ISBN 0-7803-8371-0 0;
SCOTT, J. B. et al.: A new instrument architecture for millimetre-wave time-domain signal analysis. In: ARFTG 63rd Conference, 2004, S. 47 - 52. ISBN 0-7803-8371-0 n;
SIART, U.: Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren. Stand: 4. Januar 2012, Version 1.51. URL: http://www.siart.de/lehre/nwa.pdf [abgerufen am 05.09.2014] p 0
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
D. Root et al: "X-Parameter: Das neue Paradigma zur Beschreibung nichtlinearer HF- und Mikrowellenbauelemente". In: tm - Technisches Messen Nr. 7-8, Vol. 77, 2010 1;
Uwe Siart; "Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren"; 4. Januar 2012 (Version 1.51); http://www.siart.de/lehre/nwa.pdf 1
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01R 19/00
G01R 19/25
G01R 27/28
G01R 27/32
G01R 35/00
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