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Titel |
TI |
[DE] Messsystem und Messverfahren zur Messung einer Oberflächendehnung mittels eines plasmonischen Reflektors |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Schaeffler Technologies AG & Co. KG, 91074, Herzogenaurach, DE
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Erfinder |
IN |
Benkert, Frank, 97534, Waigolshausen, DE
;
Gierl, Jürgen, Dr., 91052, Erlangen, DE
;
Schiffler, Andreas, 91074, Herzogenaurach, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
24.09.2013 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102013219149 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
09.04.2015 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/16
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01M 11/02
(2006.01)
G01N 21/27
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/165
G01L 1/24
G01N 21/554
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/16
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01M 11/02
(2006.01)
G01N 21/27
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Die Erfindung betrifft ein Messsystem und ein Messverfahren zur Messung einer Oberflächendehnung auf einem Maschinenteil 41. Um bisherige Methoden des Standes der Technik zu verbessern wird vorgeschlagen einen optischen Ansatz zu verfolgen, der die Generierung eines Testlichtstrahls 45 beinhaltet und einen plasmonischen Reflektor 31, 32, 33, 40 mit einer periodischen Struktur 10, 11, 12 dazu verwendet, Plasmonen zu generieren. In Abhängigkeit der Verzerrung der periodischen Struktur 10, 11, 12, die im Wesentlichen eine Nanostruktur 11 ist, die gegebenenfalls in einer Mikrostruktur 10, 12 eingebettet sein kann, wird ein Teil einer Energie jedes wechselwirkenden Photons zur Generierung eines Plasmons an die periodische Struktur 10, 11, 12 abgegeben. Somit enthält der reflektierte Antwortstrahl 44 Photonen, die im Vergleich zu den Photonen des Testlichtstrahles 45 anders beschaffen sind. Anhand dieser Diskrepanz ist es möglich eine Änderung der periodischen Struktur 10, 11, 12 zu erkennen und damit die Dehnung oder sogar ein Drehmoment des Maschinenbauteils 41 zu ermitteln. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000010335533A1
US020100053598A1
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
DE102005030751A1
DE102006012831A1
EP000000227036A2
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
Luca Dal Negro, Ning-Ning Feng und Ashwin Gopinath: Electromagnetic coupling and plasmon. In: JOURNAL OF OPTICS A: PURE AND APPLIED OPTICS, Vol. 10, 2008, Nr. 6, 064013. stacks.iop.org/JOptA/10/064013 [abgerufen am 14.02.2014] p 0;
Selim Olcum, u.a.: Tunable surface plasmon resonance on. In: OPTICS EXPRESS, 17, 2009, 10, 8542 - 8547. http://dx.doi.org/10.1364/OE.17.008542 [abgerufen am 13.02.2014] p 0;
Tetsuo Kan, Kiyoshi Matsumoto und Isao Shimoyama: Optical measurement of directional strain by scattering from nano-disk pairs aligned on an elastomer. In: Nanotechnology, 23, 2012, 31, 315201. http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/23/31/315201. [abgerufen am 13.02.2014] p 0
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Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
F16C 19/52
G01B 11/16
G01L 1/24
G01N 21/27
G01N 21/552 SPR
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