Bibliografische Daten

Dokument DE102013111793A1 (Seiten: 11)

Bibliografische Daten Dokument DE102013111793A1 (Seiten: 11)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] Verfahren zur Beurteilung der Schneideigenschaften abrasiver Werkzeuge und Einrichtung hierzu
71/73 Anmelder/Inhaber PA Hochschule Furtwangen, 78120, Furtwangen, DE
72 Erfinder IN Jandaghi, Nima, 78628, Rottweil, DE ; Tawakoli, Taghi, Prof. Dr.-Ing., 79256, Buchenbach, DE
22/96 Anmeldedatum AD 25.10.2013
21 Anmeldenummer AN 102013111793
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 30.04.2015
33
31
32		 Priorität PRC
PRN
PRD

51 IPC-Hauptklasse ICM B24B 53/00 (2006.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS B24B 51/00 (2006.01)
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC B24B 49/12
MCD-Hauptklasse MCM B24B 53/00 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS B24B 51/00 (2006.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Die Erfindung betrifft ein Verfahren (1) zur Beurteilung der Schneideigenschaften abrasiver Werkzeuge und eine Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens mittels einer optischen Erfassungseinrichtung eines Istzustands einer Oberfläche des Werkzeugs, einer Speichereinrichtung zur Vorhaltung eines Referenzzustands der Oberfläche sowie einer Auswerteeinrichtung zur Ermittlung eines Vergleichs zwischen Ist- und Referenzzustand. Um die Schneideigenschaften in einfacher Weise und kostensparend bestimmen zu können, wird mittels eines Abdruckstempels ein optisch invertiertes Abbild des Istzustands der Oberfläche hergestellt, mittels einer mobilen Erfassungseinrichtung das Abbild erfasst, auf die Auswerteeinrichtung übertragen und anhand eines Vergleichs des Abbilds mit dem Referenzzustand aktuelle Schneideigenschaften der Oberfläche ermittelt.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt		 CT DD000000122662A1
DD000000297594A5
EP000001905542A1
JP000H07260456A
JP000H10244464A
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt		 CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt		 CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt		 CTNP
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP B24B 51/00
B24B 53/00