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Titel |
TI |
[DE] Verfahren und Anlage zur Überwachung eines Autoklaven-Fertigungsprozesses |
| 71/73 |
Anmelder/Inhaber |
PA |
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147, Köln, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Kühn, Michael, 21723, Hollern-Twielenfleth, DE
;
Rosner, Matthias, 21682, Stade, DE
;
Steffen, Olaf, 21073, Hamburg, DE
;
Ucan, Hakan, 21680, Stade, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
09.07.2013 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102013107214 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
19.05.2016 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
B29C 70/00
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
B29C 70/44
(2006.01)
B29C 70/54
(2006.01)
G01B 11/03
(2006.01)
G01B 11/14
(2006.01)
G01K 11/12
(2006.01)
G01N 25/20
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
B29C 70/44
G01B 11/026
G01K 11/32
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
B29C 70/00
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
B29C 70/44
(2006.01)
B29C 70/54
(2006.01)
G01B 11/03
(2006.01)
G01B 11/14
(2006.01)
G01K 11/12
(2006.01)
G01N 25/20
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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Zusammenfassung |
AB |
[DE] Faserverbund-Fertigungsanlage (1) zur Herstellung eines Faserverbund-Bauteils (3), welches aus einer Mehrzahl von Faserverbund-Bauelementen (4a, 4b) gebildet wird, wobei die Faserverbund-Fertigungsanlage (1) aufweist: a) einen Autoklaven (2) zum Aushärten des Faserverbund-Bauteils (3) durch Temperierung und/oder Druckbeaufschlagung, gekennzeichnet durch b) eine Positionsermittlungseinrichtung zum Ermitteln einer Positionsinformation von zumindest einem der Faserverbund-Elemente (4b) während des Aushärtens des Faserverbund-Bauteils (3) im Autoklaven (2) mit b1) einem Sensorsystem (5) mit mindestens einem optischen Sensor (6a bis 6d) zum Erfassen von optischen Messdaten des zumindest einen Faserverbund-Bauelementes (4b) im Autoklaven (2) während des Autoklaven-Fertigungsprozesses und b2) einer Auswerteeinheit (7), die zum Ermitteln der Positionsinformation des zumindest einen Faserverbund-Bauelementes (4b) in Abhängigkeit von den erfassten optischen Messdaten eingerichtet ist. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
EP000001749642A2
WO002007143045A2
WO002008079842A2
WO002010055059A1
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/03
G01B 11/14
G01J 5/00
G01N 25/20
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