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Bibliografische Daten

Dokument DE102012206472A1 (Seiten: 33)

Bibliografische Daten Dokument DE102012206472A1 (Seiten: 33)
INID Kriterium Feld Inhalt
54 Titel TI [DE] PROJEKTIONSSYSTEM MIT STATISCHEN MUSTERERZEUGUNGSELEMENTEN UND MEHREREN OPTISCHEN KANÄLEN ZUR OPTISCHEN 3D-VERMESSUNG
71/73 Anmelder/Inhaber PA Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686, München, DE ; Friedrich-Schiller-Universität Jena, 07743, Jena, DE
72 Erfinder IN Breitbarth, Andreas, 07751, Jena, DE ; Kühmstedt, Peter, 07751, Jena, DE ; Notni, Gunther, 07749, Jena, DE ; Schreiber, Peter, 07749, Jena, DE ; Sieler, Marcel, 07745, Jena, DE
22/96 Anmeldedatum AD 19.04.2012
21 Anmeldenummer AN 102012206472
Anmeldeland AC DE
Veröffentlichungsdatum PUB 24.10.2013
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31
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Priorität PRC
PRN
PRD


51 IPC-Hauptklasse ICM G01B 11/25 (2012.01)
51 IPC-Nebenklasse ICS
IPC-Zusatzklasse ICA
IPC-Indexklasse ICI
Gemeinsame Patentklassifikation CPC G01B 11/2513
G01B 11/2531
G01S 17/48
G01S 17/89
G01S 7/4815
MCD-Hauptklasse MCM G01B 11/25 (2006.01)
MCD-Nebenklasse MCS G01S 17/89 (2020.01)
MCD-Zusatzklasse MCA
57 Zusammenfassung AB [DE] Ein Projektionssystem zur Projektion zumindest eines Musters auf zumindest ein in einer Messobjektregion befindliches Objekt umfasst eine erste Lichtquelle, eine zweite Lichtquelle, eine erste Projektorgruppe und eine zweite Projektorgruppe. Sowohl die erste Projektorgruppe als auch die zweite Projektorgruppe umfasst mehrere zweidimensional angeordnete Projektoreinheiten. Jede Projektoreinheit umfasst ein statisches Mustererzeugungselement, eine in einer Durchleuchtungsrichtung vor dem statischen Mustererzeugungselement liegende Feldlinse und eine in der Durchleuchtungsrichtung hinter dem statischen Mustererzeugungselement liegenden Projektionslinse. Jede Projektoreinheit ist konfiguriert, auf von der ersten bzw. zweiten Lichtquelle ausgesendetes Licht zu wirken und ein jeweiliges Teilmuster zu projizieren. Die erste Projektorgruppe ist der ersten Lichtquelle und die zweite Projektorgruppe der zweiten Lichtquelle zugeordnet. Die erste bzw. zweite Projektorgruppe ist konfiguriert, eine erste bzw. zweite Mehrzahl von Teilmustern zu erzeugen, die ein erstes bzw. zweites resultierendes Muster ergeben und somit mittels einer strukturgebenden Einheit für sich allein betrachtet das erste bzw. zweite resultierende Muster innerhalb der Messobjektregion zu erzeugen. Die erste Lichtquelle und die zweite Lichtquelle sind unabhängig voneinander ansteuerbar, so dass das erste resultierende Muster und das zweite resultierende Muster zu verschiedenen Zeiten oder mit verschiedenen Helligkeiten projiziert werden können.
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt
CT DE102004052199A1
DE102008047816A1
DE102009024894A1
US000005636025A
US020070268398A1
US020100008588A1
56 Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt
CT
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt
CTNP
56 Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt
CTNP C. Bräuer-Burchardt, A. Breitbarth, P. Kühmstedt, I. Schmidt, M. Heinze und G. Notni, "Fringe projection based high-speed 3D sensor for real-time measurements", Proceedings of SPIE 8082, 808212 (2011) 1;
C. Bräuer-Burchardt, M. Möller, C. Munkelt, P. Kühmstedt und G. Notni, "Comparison and evaluation of correspondence finding methods in 3D measurement systems using fringe projection", Proceedings of SPIE 7830, 783019 (2010) 1;
D. Koller, L. Walchshäusl, G. Eggers, F. Neudel, U. Kursawe, P. Kühmstedt, M. Heinze, R. Ramm, C. Bräuer-Burchardt, G. Notni, R. Kafka, R. Neubert, H. Seibert, M. Castro Neves und A. Nouak, "3D capturing of fingerprints- on the way to a contact less certified sensor", BIOSIG Annual Conference 191/33-44 (2011) 1;
D. Rieke-Zapp, W. Tecklenburg, J. Peipe, H. Hastedt, C. Haig, "Evaluation of the geometric stability and the accuracy potential of digital cameras-Comparing mechanical stabilisation versus parameterisation", ISPRS 64 (3), 248-258 (2009) 1;
F. Chen und G. M. Brown, "Overview of three-dimensional shape measurement using optical methods", Optical Engineering 39, 10-22 (2000) 1;
G. H. Notni und G. Notni, "Digital fringe projection in 3D shape measurement: an error analysis", Proceedings of SPIE 5144, 372 (2003) 1;
G. H. Notni, M. Heinze und G. Notni, "Genauigkeit verschiedener pixelweise addressierbarer Projektoren bei Einsatz in der Streifenprojektion", GMA-Bericht 70, 67-76 (1999) 1;
J. Pages, J. Salvi, R. Garcia und C. Matabosch, "Overview of coded light projection techniques for automatic 3D profiling", in proceedings ICRA, 1, 133-138 (2003) 1;
LG Business Solutions, "Datenblatt Projektor BW28611", http://www.lgsolutions.com/_downloads/pdf/specbw286061102pr.pdf (27. Januar 2012) 1;
M. Chen und G. Frankowski, "Kalibrierstrategie für optische 3D-Koordinatenmessgeräte, basierend auf streifenprojektionstechnischen und fotogrammetrischen Algorithmen", Technisches Messen 69, 240-250 (2002) 1;
M. Schaffer, M. Grosse und R. Kowarschik, "High-speed pattern projection for three dimensional shape measurement using Laser speckles", Applied Optics. 49, 3622-3629 (2010) 1;
M. Sieler, P. Schreiber, P. Dannberg, A. Bräuer und A. Tünnermann, "Ultraslim fixed pattern projectors with inherent homogenization of illumination", Appl. Opt. 51, 64-74 (2012) 1;
Maxim Integrated Products, "High-Voltage HB LED Drivers with Integrated High-Side Current Sense", http://datasheets.maxim-ic.com/en/ds/MAX16833-MAX16833E.pdf (27. Januar 2012) 1;
P. S. Huang, C. Zhang und F. Chiang, "High-speed 3-D shape measurement based on digital fringe projection ", Optical Engineering 42, 163 (2003) 1;
S. Voisin, S. Foufou, F. Truchetet, D. Page und M. Abidi, "Study of ambient light influence for three-dimensional scanners based on structured light", Optical Engineering 46, 030502 (2007) 1;
T. Bothe, W. Osten, A. Gesierich und W. Jüptner, "Compact 3D-Camera", Proceedings of SPIE 4778, 48-59 (2002) 1;
Texas Instruments Incorporated, "DLP LightCommander Development Kit", www.ti.com/ww/en/analog/mems/dlplightcommander/index.shtml (04. April 2012) 1;
W. Schreiber und G. Notni, "Theory and arrangements of self-calibrating wholebody three-dimensional measurement systems using fringe projection technique", Optical Engineering 39(1), 159-169 (2000) 1;
Y. Gong und S. Zhang, "Ultrafast 3-D shape measurement with an off-the-shelf DLP projector", Optical Express 18, 19743-19754 (2010) 1
Zitierende Dokumente Dokumente ermitteln
Sequenzprotokoll
Prüfstoff-IPC ICP G01B 11/25