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Titel |
TI |
[DE] Verfahren sowie Vorrichtungssystem zur Bestimmung einer Oberflächenform eines Messobjekts
[EN] Method for determining surface shape of measured object, involves covering measurement object surface partially with measuring film and carrying out measurement process to target surface covered with measuring film |
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Anmelder/Inhaber |
PA |
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686, München, DE
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| 72 |
Erfinder |
IN |
Bichmann, Stephan, Dr., 52074, Aachen, DE
;
Mallmann, Guilherme Francisco, 52062, Aachen, DE
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| 22/96 |
Anmeldedatum |
AD |
20.08.2012 |
| 21 |
Anmeldenummer |
AN |
102012107591 |
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Anmeldeland |
AC |
DE |
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Veröffentlichungsdatum |
PUB |
20.02.2014 |
33
31
32 |
Priorität |
PRC
PRN
PRD |
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| 51 |
IPC-Hauptklasse |
ICM |
G01B 11/24
(2006.01)
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| 51 |
IPC-Nebenklasse |
ICS |
G01B 11/00
(2006.01)
G01C 11/00
(2006.01)
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IPC-Zusatzklasse |
ICA |
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IPC-Indexklasse |
ICI |
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Gemeinsame Patentklassifikation |
CPC |
G01B 11/24
G01C 11/00
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MCD-Hauptklasse |
MCM |
G01B 11/24
(2006.01)
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MCD-Nebenklasse |
MCS |
G01B 11/00
(2006.01)
G01C 11/00
(2006.01)
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MCD-Zusatzklasse |
MCA |
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| 57 |
Zusammenfassung |
AB |
[DE] Es wird ein Verfahren zur Bestimmung einer Oberflächenform eines Messobjekts (11, 21, 31, 41) mit einer berührungslosen Messmethode zur dreidimensionalen Formermittlung vorgestellt, bei dem die zu bestimmende Messobjektoberfläche zumindest bereichsweise mit mindestens einer Messfolie (14, 34, 44) abgedeckt wird, welche eine zur Durchführung der Messmethode geeignete Messfolienstruktur aufweist, und die Messmethode auf die mit der mindestens einen Messfolie (14, 34, 44) abgedeckten Messobjektoberfläche angewandt wird. Des weiteren wird ein Vorrichtungssystem zur Bestimmung einer Oberflächenform eines Messobjekts (11, 21, 31, 41) vorgeschlagen, mit einer eine Auswerteeinheit umfassenden Messeinrichtung zur dreidimensionalen Formermittlung unter Einsatz einer berührungslosen Messmethode, und mit mindestens einer Messfolie (14, 34, 44), welche eine zur Durchführung der Messmethode geeignete Messfolienstruktur aufweist.
[EN] The method involves covering a measurement object surface partially with a measuring film (14) and measuring a film structure. A measurement process is carried out on a target surface covered with the measuring film. Electromagnetic radiation (13a) is radiated on a measuring film using an irradiating process. The electromagnetic radiation is partially and diffusely scattered on the measuring film. The measuring film is pressed based on pressure difference between two spaces adjacent to the measuring film. An independent claim is also included for a system for determining a surface shape of a measured object. |
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Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CT |
DE000004417872A1
DE000010230494A1
US000005569342A
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| 56 |
Entgegengehaltene Patentdokumente/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CT |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
in Recherche ermittelt |
CTNP |
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| 56 |
Entgegengehaltene Nichtpatentliteratur/Zitate,
vom Anmelder genannt |
CTNP |
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Zitierende Dokumente |
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Dokumente ermitteln
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Sequenzprotokoll |
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Prüfstoff-IPC |
ICP |
G01B 11/00
G01B 11/24
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